老（lǎo）煉試驗（yàn）的目（mù）的是為了篩選或剔除那些勉強合格的器件。這些器件或是本身具有固有的缺陷或者其缺（quē）陷（xiàn）產生於製造工藝（yì）的控製不當，這些（xiē）缺陷會（huì）造成與時間和應力有關的失效。如不進行老煉試驗，這些有（yǒu）缺陷的器件在使用條件下會出現初期致（zhì）命失效或早期壽命失效。

樣品（pǐn）應放於冷熱衝擊試驗箱中的合（hé）適位置，使（shǐ）液體在樣品（pǐn）周圍的流動不應受到阻礙，然後根據表2的規（guī）定，使負載進行條件B或其他規（guī）定的試驗條件進行15次循環。在完成規定試驗總循環數期間，為了進行器件批的加（jiā）載或去載，或由於電源或設備故障，允許中斷試驗。

本試驗的目的是測定mems器（qì）件承受高溫和低溫的（de）能力，以及高溫與低溫（wēn）交替變化對器件的影響。

微光機（jī）電係統(MicroElectroMechanicalSystems-——MEMS)，以下簡稱MEMS。MEMS是融合了矽微加工、LIGA(光刻、電鑄和塑鑄)和精密機械加工等多種微加工技術，並應用現代信（xìn）息技術構成的微型係統。它在微電子（zǐ）技術的基礎上發展起來的，但（dàn）又（yòu）區別於微（wēi）電子（zǐ）技術。它包括感知外界信息(力、熱、光、磁、電、聲等)的傳感器和控製對象的執行器，以及（jí）進行信號處理和控製的電路。mems器件和傳統的（de）機器相比，具有體積小、重量輕、耗能低、溫升小（xiǎo）、工作速度快、成本低、功能強、性能好等特點。