試驗使用的設備（bèi）是能（néng）夠控製規（guī）定溫度（dù）和濕度（dù）的試驗箱。可以采用下列兩種能滿足試驗條件的專（zhuān）用試驗箱：一種是能保持70℃溫度且相對濕度（dù）低於20%的恒溫恒濕試驗箱，另一種是能保持-55℃溫度的（de）高低溫試驗箱（xiāng）。亦可（kě）采用一種能調節為（wéi）上述兩種溫度的通用高低溫交變濕熱試驗箱（xiāng），但（dàn）該試驗箱溫度為70℃時（shí）相對濕度應低於20%。

電工電子產品環境（jìng）可（kě）靠性測試包括：低溫（wēn）工作試驗、高溫工作試驗、低溫貯存試驗、高溫貯存試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、溫度循環試驗、振動（dòng）試（shì）驗、衝擊試驗、自由跌落試驗、低氣壓試驗、防塵試驗、淋雨試驗等。

高溫貯存試驗通常用於確定貯（zhù）存條件下（xià）時間和溫度對熱故（gù）障機製的影響，以及固態電子設備（包括非易失（shī）性存儲設備（bèi））的時間-故障分布（數（shù）據保留故障重（chóng）建機製）。在試驗過程中，在不施加電氣條件的情況下（xià），使用加速應力溫度，根據時間、溫度和包裝（如有），利用阿倫尼烏斯加速（sù）方程建立了（le）熱失效機（jī）理模型。

元器（qì）件可靠性（xìng）試驗是由一係列（liè）通用的基本試（shì）驗單元——可靠性基礎試驗組成，把組成各種可靠性試驗的（de）基（jī）本的試驗叫做可靠性基礎試驗。可靠性基礎試驗如高溫貯存試驗、振動試驗（yàn）和鹽（yán）霧試（shì）驗等，它們都是獨立的試驗，不同的組合可構成不同的可（kě）靠性試驗（yàn）。因此，可靠性基礎試驗的結果將直接影響元器件可靠性試驗的結果（guǒ）。所以（yǐ），這些通用的可靠性基礎試驗是（shì）做好（hǎo）元器件可（kě）靠性試驗的重要保證。

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