試驗使用的設備是能夠控製規定溫度和濕度的試（shì）驗箱。可以（yǐ）采用下列兩種能滿足試驗條件的專用試驗箱：一種是能保持70℃溫（wēn）度且相對濕度（dù）低於20%的恒溫恒濕（shī）試驗箱（xiāng），另一種是能保持-55℃溫度的高低溫試（shì）驗箱。亦可采用一種能調節為上述兩種溫度的通用高低溫交變濕熱試驗（yàn）箱，但該（gāi）試驗箱溫度為（wéi）70℃時相對（duì）濕度應低於20%。

電工電子產品環境可靠（kào）性測試包（bāo）括：低溫工作試驗、高溫工作試驗（yàn）、低溫（wēn）貯存試驗、高溫貯存試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試（shì）驗、溫度循環試驗、振動試驗、衝擊試驗、自由跌落試驗、低（dī）氣壓試驗、防塵試驗、淋（lín）雨試驗等。

高溫貯存試驗通常用於（yú）確定貯存條件下時間（jiān）和溫度對熱故障機製的影響，以及（jí）固態電子設備（包括（kuò）非易失性存儲設備）的時間-故障分布（數據保留故障重建機（jī）製）。在試（shì）驗過程中，在（zài）不施加電氣條件的情況（kuàng）下（xià），使用（yòng）加速應力溫度（dù），根據時間、溫度（dù）和包裝（如有），利用阿倫（lún）尼烏斯加速方程建立了（le）熱失效機理模型。

元器件可靠（kào）性試驗（yàn）是由一係列通用的基本試（shì）驗單元——可靠性（xìng）基礎試（shì）驗組成，把組成各種可靠性試驗的基本的試驗（yàn）叫做可靠性基礎試驗。可靠性基礎試（shì）驗如高溫貯存試驗、振動試驗和鹽（yán）霧試驗等（děng），它們（men）都是獨立的試驗，不同的組合可構成（chéng）不同的可靠性試驗（yàn）。因此，可靠性基礎試驗的結果將（jiāng）直接影響元器件可靠性試驗的結果。所以，這些通用的可靠性基礎試驗是做好元器件可靠性試驗的重要保證。

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