測試條件（jiàn）包括（kuò）溫度、濕度、蒸氣壓和時間

    注1公差應用於整個可（kě）用的試驗區域。
    注2試驗條件應持續施加，除去中間讀數點。對中間讀數點，器件件應在5.2規定時間內返回加壓。
    注3本文件之前的版本規定以下試驗條件。
    條件A：24hrs（-0，+2）
    條件B：48hrs（-0，+2）
    條件C：96hrs（-0，+5）
    條（tiáo）件D：168hrs（-0，+5）
    條件（jiàn）E：240hrs（-0，+8）
    條件F：336hrs（-0，+8）
    試驗時間由內部（bù）鑒定要求、JESD47或適用的程序文件規定。典型為96小時。
    注意：對塑封微電路，濕氣會降低塑封料（liào）的有效的玻璃化溫度。在有效的玻璃化溫度之.上的應力（lì）溫度可能導致與操作（zuò）使用相（xiàng）關的失（shī）效機理。
    4.程（chéng）序
    受試器件應（yīng）以一定方式固定，暴（bào）露在規定的溫度、濕度條件下。應避免元件（jiàn）置於100℃以上和小於10%R.H.濕度（dù）的環境中，特別是上升、下降和先期測量幹燥期間。上升和下降時間（jiān）應分別小（xiǎo）於（yú）3小（xiǎo）時。在（zài）設備控製和冷卻程序時要特別小心防止（zhǐ）受試器件受（shòu）到（dào）破壞性的降壓。確（què）保減少汙染，經常清潔試驗腔體。
    4.1試驗周期
    溫度和相對濕度達到第4條規定的（de）設定點啟（qǐ）動試驗計時，並在下降（jiàng）開始（shǐ）點停止計時。
    4.2測試
    電測試應在（zài）下降（jiàng）結束降（jiàng）到室溫不早於2小時，不超過（guò）48小時內進行。對於中間測量，在下降階段結束後96小時內器件恢複應力。器件從高（gāo）壓蒸煮試驗箱移出後,可以通（tōng）過把器件放入密封的潮濕袋(無幹燥劑)中來減小器件的潮氣（qì）釋放（fàng）速率。當器件放入密封袋時，測試（shì）時間計時以器件暴露於實驗室環境中潮氣釋放（fàng）速率的（de）1/3來計算。這樣通過把器件裝入潮氣密封袋中測試時間可延長到144小時，壓力恢複時間也延長到288小（xiǎo）時。
    4.3處理
    應使用消除任何來源的附帶汙染或靜電放電損（sǔn）壞的手環，處理器件和測試夾具。在本試驗和任何高加速濕（shī）氣應力試驗中，汙染控製是重要的。
    5.失效判據
    如果試（shì）驗後，器件參數超過極限值，或按適用的（de）采購文件和數據表中規定的正常和極限環境中不能驗（yàn）證其功能時，器件視為失效。由於（yú）外部封裝損傷（shāng）造成的電失效不作為失效標準考慮範圍。
    6. 安全性（xìng）
    遵守設備生產廠家（jiā）建（jiàn）議和當地安全法規。
    7.說明
    有關的采（cǎi）購文（wén）件中應規（guī）定如下內容:
    a)試驗持續（xù）時間
    b)試驗後測量