測（cè）試條件包括溫度、濕度、蒸氣（qì）壓和時間（jiān）

    注1公差應用於整個可（kě）用的試驗區域。
    注2試驗條件應（yīng）持（chí）續施加，除去中（zhōng）間讀數點。對中間讀數（shù）點，器件件應在5.2規定時間內返回加壓。
    注3本（běn）文件（jiàn）之前的（de）版本規定以下試驗條（tiáo）件。
    條件A：24hrs（-0，+2）
    條件B：48hrs（-0，+2）
    條件C：96hrs（-0，+5）
    條（tiáo）件D：168hrs（-0，+5）
    條件E：240hrs（-0，+8）
    條件F：336hrs（-0，+8）
    試驗時間由內部鑒定要求、JESD47或適用的程序文件規定。典型為96小時。
    注意：對塑封微電路，濕氣會降低塑封料的有效的玻璃化溫度。在有效的玻璃化溫度之.上的應力溫度可能導致與操作使（shǐ）用相關的失效機理（lǐ）。
    4.程序
    受試器件應以一定方式固定，暴露在規定的（de）溫度、濕度條件（jiàn）下。應避免元件置（zhì）於100℃以上和小於10%R.H.濕（shī）度的環境（jìng）中，特別（bié）是上升、下降和先期（qī）測量幹燥期間。上升和下降（jiàng）時間應分別小於（yú）3小時。在設備控製和冷卻程序時要特別小心防止受試器件受（shòu）到破壞性（xìng）的降壓（yā）。確保減少汙（wū）染，經常清潔試驗（yàn）腔體。
    4.1試驗周期
    溫度和相對濕（shī）度達到第4條規定（dìng）的設定點啟動試驗計時，並在下降開始點停止計時。
    4.2測試
    電測試應在下降結束降到室溫不早於2小時，不超過48小（xiǎo）時內（nèi）進行。對於中間測量，在下降階段結束後96小時內器件恢複應力（lì）。器件從高壓蒸煮試驗（yàn）箱移出後,可以通過把器件放入密封的潮濕袋（dài）(無幹燥劑)中來減小器件（jiàn）的潮氣釋放速率。當器（qì）件放入密封袋時，測試（shì）時間計時以器件暴露於實驗室環境中潮氣釋放速率（lǜ）的1/3來計算。這樣通過把器件裝入潮氣密封袋（dài）中測試時間可（kě）延長到144小時，壓力恢複時（shí）間（jiān）也延長到288小時（shí）。
    4.3處（chù）理
    應使用消除任何來源的附帶汙染或靜電放電（diàn）損（sǔn）壞的手環，處理器（qì）件和（hé）測試夾具。在（zài）本試驗（yàn）和任何高加速濕氣應力試驗（yàn）中，汙染控製是重要的。
    5.失效判據
    如果試驗後，器件參數超過極限值，或按適用的采購（gòu）文件和數據表中規定的正（zhèng）常和極限環境中不能驗證其功能時，器件視為（wéi）失效。由於外部（bù）封裝（zhuāng）損傷造（zào）成的電（diàn）失效不作為失效標準考慮範圍。
    6. 安全性
    遵守設備生產廠家建議和當（dāng）地安全（quán）法規。
    7.說明
    有關的采購文件中應規定如下內容:
    a)試驗持續時（shí）間
    b)試驗後測量