HAST試驗箱為何成為集成電（diàn）路IC可靠性測試（shì）的佳選？
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salmon範
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發布日（rì）期： 2020.06.22
目前，在集成電路IC領域，環境可靠性測試設備主要有高低溫試驗箱以及HAST試驗箱（xiāng）。但為什麽HAST試驗箱會成為集成（chéng）電路IC可靠性（xìng）測試的佳選呢？這由於HAST試（shì）驗箱結合壓力、濕度（dù）、濕度條件的（de）高加速試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外（wài）外部保護物料（塑封料或絲印）或沿外保護物料與金屬導電層之間界（jiè）麵滲（shèn）入，本測試用於（yú）識別封裝內部的失（shī）效機製，並且是破壞性的。
高低溫試驗箱可分為高低溫運行測試、高低溫貯存測試、高低溫交變測（cè）試、高低溫循環測試、溫度衝擊測試等（děng），雖然可測試的項目較多，可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命，但隻是單一的溫濕度測試不夠精確的測試產品在氣壓下的使用情（qíng）況。而HAST高壓加速老化測試集溫度-濕度-壓力（非飽和（hé）可調）一體，多（duō）方麵測試集成電路（lù）IC，評估產品的失效機製。
高低溫試驗箱的產品優勢：
1、極（jí）限測試溫度可達300℃，低溫-200℃，電耗低；
2、低溫長期1000小時以上不結霜；
3、可編（biān）程（chéng）控製，可通過互聯網、WIFI、手機APP等監控設備（bèi）運行情況。
HAST試驗箱的產品優勢：
1、濕度（dù）可調式溫度-濕度-壓力（lì）一體試驗設備，測試（shì）穩定性高；
2、可配（pèi）置多個測試端口供給用戶產品帶電測試；
3、設備升溫時自動預排（pái）空氣潔淨度，確保箱內純淨（jìng）度；
4、箱體采用耐高壓設計技（jì）術，確保設備（bèi）、操作人員安全。
