熱（rè）門關鍵（jiàn）詞（cí）： 高低溫試驗箱 可程式恒溫恒（héng）濕試驗箱 PCT高壓加（jiā）速（sù）老（lǎo）化試驗機 無風烤（kǎo）箱 鹽霧試驗箱
可按需（xū）定製
溫度範圍：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可選
壓（yā）力（lì）範圍：A(壓力表+0.2～2.0kg/cm)；B(壓力表+0.2～3.0kg/cm)；C(壓力表+0.2～3.5kg/cm)
濕（shī）度範圍：65%～100%R.H(可調)
濕度（dù）波動度：非飽和控（kòng）製：±2.5%R.H 、濕潤飽和控製：100%R.H
HAST高壓（yā）加速（sù）老化試驗箱是（shì）在非飽和濕度（65%～100%RH可調）、溫度、壓力（lì）等條（tiáo）件下，檢測產品（pǐn）或材料可靠性耐高溫高濕能力的（de）儀器設備。
HAST高壓加速老化（huà）試驗箱是在非飽和濕度（65%～100%RH可調）、溫（wēn）度、壓力等條件下（xià），檢測產品或（huò）材料可靠性耐（nài）高溫高濕能力的儀器設備。
一般用來進行材料吸濕率試驗、高壓（yā）蒸煮試驗等（děng），若待測品是半導體，則用來測試半導體封裝之抗濕（shī）氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度（dù）以（yǐ）及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿（yán）者膠體或（huò）膠體與導線架之接口（kǒu）滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆（bào）米花效應、動（dòng）金屬化區（qū）域腐蝕造（zào）成之斷路、封裝體引腳間因汙染造成之短路等相關問題。
準時交貨率高達99% 立即谘詢（xún）
標準設計更（gèng）安（ān）全
內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規範；
多重保護功能
各種超壓（yā）超溫、幹燒（shāo）漏電及誤操作等多重人機保護；
穩定性更高
控製模式分為幹（gàn）濕球（qiú）、不飽和、濕潤飽和等3種模式（shì），確（què）保測試穩定（dìng）性；
濕度自（zì）由選擇
飽（bǎo）和（100%R.H濕度）與非飽（bǎo）和（75%R.H濕度）自（zì）由設定；
智能化高
支持電腦（nǎo）連接，
利用USB數據、
曲線導出保存
400電話（huà）
