HAST高加速應力測試
作者：
網絡
編輯：
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來源：
網絡
發（fā）布日期： 2021.07.21
原理：
試（shì）樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環境下，加速（sù）濕氣穿過外部的（de）保護層，或沿著金屬（shǔ）和外保護層的分界麵穿透，造成試樣的失效。
標準（zhǔn）：
JESD22-110-B
模塊設計：
無
設（shè）備物料：
1.控製的環境：需要在上升至特定的測試環境或從特定的環境下（xià）降時，保證壓力、溫度（dù）和相對濕（shī）度的HAST試驗箱；
2.溫度曲線記錄：需要記錄每個測試（shì）循（xún）環的溫度曲線，以保證能核實壓力的有效性；
3.試樣（yàng）必須位於溫度梯度小處，離內壁至少（shǎo）3cm，不能接（jiē）觸（chù）到熱源的直接（jiē）輻射加熱；
4.減少汙染
5.去除離子汙染
6.去離（lí）子水
方法：
1.溫度（dù），相對濕度和（hé）時間
2.偏壓方法（fǎ）：
a）減少功率消耗
b）盡量快地交換針偏（piān）壓
c）盡量多地在芯片，上分布位差
d）在可運行的範圍內盡量加大電壓
e）以下兩種方法可以滿足指導方法：
1）連（lián）續偏（piān）壓-直流偏壓需要（yào）-直施加。
當失（shī）效溫度比HAST試驗箱的環境溫度（dù）高≤10℃時，或者加熱損耗小於200mW時（shí）失效溫（wēn）度未知時，連（lián）續偏壓比循環偏壓要嚴（yán）格的多。當加熱損耗達到200mW，就可以計算（suàn）失效溫度（dù）。如果失效溫度超過了HAST試驗（yàn）箱（xiāng）溫度5℃，則需要在結果中記錄失效溫度高於HAST試（shì）驗箱溫度，因為產生了加（jiā）速失效機理。
2）循環偏壓-施加在試樣上的直流電壓需要以適（shì）當（dāng）的頻率進行中（zhōng）斷（duàn）。如果偏壓的設置產生了HAST試驗箱（xiāng）溫度的上升，△Tja，達到10℃，當為了優化特定（dìng）試樣類型時，循環偏壓要比連續偏壓更為嚴格。能量耗散導致的加熱會造成濕（shī）氣的散開（kāi），減少和濕氣有關的失效機製。
當試（shì）樣不發生能量耗散時，循環偏壓在（zài）中斷時允許濕氣的進入。
50%周期的循（xún）環對大多數的
塑料封裝電路板合適。
對≥2mn厚（hòu）度的（de）需（xū）要≤2h，而<2m厚度的需要≤30min。
當（dāng）失效溫度超過HAST試驗（yàn）箱5℃或更多時（shí），需要用知名的熱阻抗和耗散公式來計算失效的溫度。
3、偏壓的選擇與記錄
4.測試樣品（pǐn）需要暴露在特（tè）定的溫濕（shī）度以及特定的電偏壓環境下。需要避免試樣過熱（rè），幹燥（zào）或者局部加熱或冷卻。
5.升
達到穩定的溫度和相對濕度的（de）時間（jiān）不超過（guò）3個小時。通過保證測試倉內的溫度始終超過（guò）濕球溫度計的溫度，來保證不（bú）會有水（shuǐ）分凝結。升溫速率也不能太快以至於DUT溫度低於（yú）濕（shī）球溫度計溫（wēn）度。幹濕溫度計需要一直記錄溫度（dù），保證在主要（yào）的加熱開始時，相對濕度（dù）在50%以上。在幹燥的實驗室內，HAST試驗箱內環境可（kě）能比這還要幹燥。
6.降
階段，稍微下（xià）降到一定標準壓力(濕球溫度104℃）需要足（zú）夠長的時（shí）間保證試樣（yàng）不產生由於下降過快（kuài）導致（zhì）的認為因素。但是也不要超過3個小時。第二階（jiē）段的“下降時從濕（shī）球（qiú）溫度的104℃到室（shì）溫需要讓測試倉排出壓力。沒有時間的限製，也可以對容器進行強冷。下降的部分都不允許水的凝結（jié），為了保證（zhèng）HAST試驗箱的溫度始終超（chāo）過濕球溫度計。下降時需（xū）要保證模（mó）塑料封裝硬模的濕度。因此，在段下降的過程中，相對濕度（dù）不能小於50%。
失效判定：
如果（guǒ）達到了參量的限製，或者在惡劣的環境（jìng）下不能（néng）證明（míng）其功能性，則（zé）判（pàn）定該試樣在HAST測試中失（shī）效。
