HAST高加速應力測試
作者：
網絡
編輯：
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來源：
網絡
發布日期： 2021.07.21
原（yuán）理：
試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環境下，加速濕氣穿過（guò）外部（bù）的保（bǎo）護層，或沿著金屬和外保護（hù）層的分界麵穿（chuān）透，造成試（shì）樣的失效。
標準（zhǔn）：
JESD22-110-B
模塊設計：
無
設備物料：
1.控製的（de）環境：需要在上升至特定的測試（shì）環境或從特定的環境下降時，保證壓力、溫度和（hé）相對濕度的HAST試驗箱；
2.溫（wēn）度曲線記錄：需要記錄每個測試循環（huán）的溫度曲線，以保證能核實壓力的有效性；
3.試樣必須位於溫（wēn）度梯度小處，離內壁至少3cm，不（bú）能（néng）接（jiē）觸到熱（rè）源的直接輻射加熱；
4.減（jiǎn）少汙染
5.去（qù）除離子汙染
6.去離子水
方法（fǎ）：
1.溫度，相對濕度和時間
2.偏壓方法：
a）減少功率消耗
b）盡（jìn）量快地交換針偏（piān）壓
c）盡量多地（dì）在芯片，上分布位差
d）在（zài）可運行的範圍內盡量加大電壓
e）以下（xià）兩種方法可以滿足指導方法：
1）連續偏壓-直流（liú）偏壓需要-直施加。
當失效溫度比HAST試驗箱的環境溫度高≤10℃時，或者加熱損耗小於200mW時失效溫度未知時（shí），連續偏壓比循環偏壓（yā）要嚴格的多。當加熱損耗達（dá）到200mW，就可以計算失效（xiào）溫度。如果失效溫度超過了HAST試驗（yàn）箱溫度5℃，則需要在結果中記錄失效溫度高於HAST試驗箱溫（wēn）度，因為產生了加（jiā）速失效機理。
2）循環偏壓-施加在試樣上的直流（liú）電壓需（xū）要以適當的頻率進行中斷。如果偏壓的設（shè）置產生了HAST試驗箱溫度（dù）的上升，△Tja，達到10℃，當為了優化特定試樣（yàng）類型時，循環偏壓要比（bǐ）連續偏壓更（gèng）為嚴格。能量耗散導致的加熱（rè）會造成濕（shī）氣的散開，減少和濕氣有關的失效機製。
當試樣不發生能量耗散時，循（xún）環（huán）偏（piān）壓在中斷時允許濕氣的進入（rù）。
50%周期的循環對（duì）大多數的
塑料封裝電路板合適。
對≥2mn厚度的需要≤2h，而<2m厚度的需要≤30min。
當失效溫度（dù）超過HAST試驗箱5℃或更多時，需要用知名的（de）熱阻抗和耗散公式來計算失效的溫度。
3、偏壓（yā）的選擇與記錄
4.測試樣品需要暴露（lù）在特（tè）定的溫濕度以及特定的電偏壓環境下。需要（yào）避（bì）免（miǎn）試樣過熱，幹燥或（huò）者（zhě）局部加熱或冷卻。
5.升
達到穩定的溫度和相對濕（shī）度（dù）的時間不超過3個小時（shí）。通過保（bǎo）證測（cè）試倉內的溫度始終超過濕球溫度計的溫度，來保證不會有水分凝（níng）結。升溫速率（lǜ）也不（bú）能太快以至於DUT溫度低於濕球溫度計溫度。幹濕溫度計需要一直記錄溫度，保證在主要的加熱開始時，相對濕度在50%以上。在幹燥的實驗室內，HAST試驗箱內環境（jìng）可能比這還要（yào）幹燥。
6.降
階段，稍微下（xià）降到（dào）一定標準壓力(濕球溫度104℃）需要（yào）足夠（gòu）長的時間保證試樣不（bú）產（chǎn）生由於下降過快導致的認（rèn）為因素。但（dàn）是也不要超過3個小時（shí）。第二階段的（de）“下降時從濕球溫度的104℃到室溫需要（yào）讓測試倉排出（chū）壓力。沒有時間的限製，也可（kě）以對（duì）容器進行強冷。下降的部分都不允許水的凝結，為了保證HAST試驗箱的溫度始終超（chāo）過濕球溫度計。下降時需要保證模塑料封裝硬模的濕度。因此，在段（duàn）下降的過程中，相對濕（shī）度不能小（xiǎo）於50%。
失效（xiào）判（pàn）定：
如果達到了參量的限製，或（huò）者在惡劣的環境下不能證明其功能（néng）性，則判（pàn）定該（gāi）試樣在HAST測試中（zhōng）失效。
