熱門（mén）關鍵詞： 高低溫試驗箱（xiāng） 可程式恒溫恒濕試驗箱 PCT高壓加速老化試驗機（jī） 無（wú）風烤箱 鹽（yán）霧試驗箱
溫度範圍:105°C~155°C
控（kòng）製（zhì）精度:±0.5°C
濕度範圍（wéi）:65%RH~100%RH
壓力範圍:+0.2~3.5kg
使（shǐ）用時間:可持續使用500小（xiǎo）時+
升溫時間:約70分鍾(從（cóng）室（shì）溫到120°C、85%RH到達時間)
試驗數據可以導（dǎo）出為Excel格式並通過USB接口進行（háng）傳輸
HAST試驗（yàn）箱是（shì）利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕（shī）度(約85%)、高大氣壓力的條件（達3 atm）來（lái）加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封（fēng）裝的試驗設備，用於評估產品及材料在（zài）高溫，高濕，高氣壓條件下對（duì）濕度的抵抗能力，加速其失效過（guò）程（chéng）。
該試驗檢查芯片及其他材料長期貯（zhù）存條件下，高溫和時間對器件（jiàn）的影響。本規範（fàn）適用於（yú）量產（chǎn）芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝（塑（sù）料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
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標準設計更安全
內膽采用（yòng）圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規範（fàn）；
多重保護功能
三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護（hù）與電熱斷水空焚（fén）保護、機台（tái）停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機（jī）構壓力保護等
穩定性更高
壓力值采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度；
濕度自由選擇
濕度自由選（xuǎn）擇飽和（100%R.H濕度）與（yǔ）非飽和（75%R.H濕度）自由設定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數據、
曲線導出保存
GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第（dì）2部分（fèn）：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓（yā）蒸汽恒定（dìng）濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循（xún）環溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓（yā）測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度，偏（piān）置電壓，以及工作壽命（IC壽命（mìng）試驗）
JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無（wú）偏壓HAST(無偏置（zhì）電（diàn）壓（yā）未飽（bǎo）和高壓蒸汽（qì）)
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