艦船通用微電子器件的老化篩選項月，一般都與個或多個（gè）故（gù）障模代有關。所以其老化篩選的順序大有講究，本文推薦的艦船（chuán）通用微電（diàn）子器件老化篩選順序（流程）是：常溫初測、低溫測試、高溫測（cè）試、高低溫衝擊動態老（lǎo）化/高溫存儲檢（jiǎn）漏（lòu）常（cháng）溫終測這裏的/是條件或。即如果已做動態老化，高溫存儲可省：如果由於條件限製做不了動態老化，那麽可用高溫存儲作（zuò）補償性篩選。

將試驗樣品在溫度設定為（wéi）25±5℃、相對濕度為（wéi）55±5%R.H.的高低溫試驗箱中,檢查外觀和結構，並通以額定電壓和額定頻率的電流，參照E13201-3和EN13201-4方法或（huò）類似的國家及行業標準測量（liàng）ED路燈的平均照度，然後在暗（àn）室中，將LED路燈發出的光投射到距（jù）路燈（dēng）等體平麵2om的牆上測（cè）量路燈照度分布圖，通過用（yòng）適的裝置測量（liàng）矩形（xíng）長寬（kuān）邊的所有夾角和矩形的長度寬度及麵（miàn）積，測（cè）量路燈的照度分布，並記錄下每個夾角、所有邊長、整體麵積的數值。

目前市場上高低溫試驗箱溫度大部（bù）分隻做到150℃，所以關於（yú）能否做到高溫200℃這個問題？為了設備長期（qī）安全及壽命的考慮，我司工程師不建議（yì）客戶把高低溫試驗箱的高溫（wēn）做200℃。

該產品的高溫失效問題，與COB各（gè）材料都有著（zhe）密切的關係:PCB、IC、邦定線、黑膠。但（dàn）主要的原因是在IC質量有缺陷的前提下（xià），由（yóu）於黑膠、邦定線、PCB各部分的熱膨脹（zhàng）係數(CTE)，在高溫條件下，黑膠可能拉動邦定線，導致接觸不良使得IC功能喪（sàng）失。

高溫測試是用來確定產品在高溫氣候環境下儲存、運輸、使用的適應性的方法。試驗的嚴苛程度取決於高溫的溫度和（hé）曝露持續時間。塑料、橡膠、色漆和清漆等高分（fèn）子材料的高溫測試主要包括熱空氣老（lǎo）化、耐熱試驗、耐熱性的測定等。

高溫試驗（高溫運行、高溫貯存）的（de）目的是確定軍民用（yòng）設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性（xìng）及耐久性。確認材料高溫下的性能。