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微電子器件老化篩選測試流程

微(wēi)電(diàn)子器件老化篩選測試流程(chéng)

艦船通用微電子器件的老化篩選項月,一般都與個或多個(gè)故(gù)障模代有關。所以其老化篩選的順序大有講究,本文推薦的艦船(chuán)通用微電(diàn)子器件老化篩選順序(流程)是:常溫初測、低溫測試、高溫測(cè)試、高低溫衝擊動態老(lǎo)化/高溫存儲檢(jiǎn)漏(lòu)常(cháng)溫終測這裏的/是條件或。即如果已做動態老化,高溫存儲可省:如果由於條件限製做不了動態老化,那麽可用高溫存儲作(zuò)補償性篩選。
LED路燈<i style='color:red'>高溫測試</i>方法

LED路(lù)燈高溫測試方法

將試驗樣品在溫度設定為(wéi)25±5℃、相對濕度為(wéi)55±5%R.H.的高低溫試驗箱中,檢查外觀和結構,並通以額定電壓和額定頻率的電流,參照E13201-3和EN13201-4方法或(huò)類似的國家及行業標準測量(liàng)ED路燈的平均照度,然後在暗(àn)室中,將LED路燈發出的光投射到距(jù)路燈(dēng)等體平麵2om的牆上測(cè)量路燈照度分布圖,通過用(yòng)適的裝置測量(liàng)矩形(xíng)長寬(kuān)邊的所有夾角和矩形的長度寬度及麵(miàn)積,測(cè)量路燈的照度分布,並記錄下每個夾角、所有邊長、整體麵積的數值。
高低溫試驗箱可以做(zuò)到200℃<i style='color:red'>高溫測試</i>嗎?

高低溫試驗箱可(kě)以做到200℃高溫測試嗎?

目前市場上高低溫試驗箱溫度大部(bù)分隻做到150℃,所以關於(yú)能否做到高溫200℃這個問題?為了設備長期(qī)安全及壽命的考慮,我司工程師不建議(yì)客戶把高低溫試驗箱的高溫(wēn)做200℃。
IC芯(xīn)片等產品<i style='color:red'>高溫(wēn)測試</i>失效原因分(fèn)析(xī)

IC芯片等產品高(gāo)溫測試失效原因分(fèn)析

該產品的高溫失效問題,與COB各(gè)材料都有著(zhe)密切的關係:PCB、IC、邦定線、黑膠。但(dàn)主要的原因是在IC質量有缺陷的前提下(xià),由(yóu)於黑膠、邦定線、PCB各部分的熱膨脹(zhàng)係數(CTE),在高溫條件下,黑膠可能拉動邦定線,導致接觸不良使得IC功能喪(sàng)失。
為什麽(me)要做<i style='color:red'>高溫測試</i>?測試標(biāo)準與(yǔ)要點

為什麽要做高(gāo)溫(wēn)測(cè)試?測試標準與要(yào)點

高溫測試是用來確定產品在高溫氣候環境下儲存、運輸、使用的適應性的方法。試驗的嚴苛程度取決於高溫的溫度和(hé)曝露持續時間。塑料、橡膠、色漆和清漆等高分(fèn)子材料的高溫測試主要包括熱空氣老(lǎo)化、耐熱試驗、耐熱性的測定等。
高溫試驗原理升溫速度變化<i style='color:red'>高溫測試</i>的標準

高溫(wēn)試驗(yàn)原理升溫速度變化高溫測試(shì)的(de)標準

高溫試驗(高溫運行、高溫貯存)的(de)目的是確定軍民用(yòng)設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性(xìng)及耐久性。確認材料高溫下的性能。

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