高溫試驗（高溫運行、高溫貯存）的目的是確定（dìng）軍民（mín）用設備（bèi）、零部件在常溫（wēn）條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性及耐久性。確認材料高溫下的性能。

    為能正（zhèng）確觀察與驗證產品在高溫環境下之熱效應，同時（shí）避免（miǎn）因濕（shī）度效應影響試驗結果，標準中對於試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗後處（chù）理（lǐ）、升溫（wēn）速度、溫度櫃負載條件、被測物（wù）與溫度櫃體積比等均有規範要求（qiú）。

    高（gāo）溫（wēn）條件下試件的（de）失效模式 產品（pǐn）所使用零件、材料在高溫時可能（néng）發生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現象。
    高溫環境對設備的主要影響有：
    a. 填（tián）充物和密（mì）封條軟化或融化；
    b. 潤滑劑粘度降低，揮（huī）發加快，潤滑（huá）作用減小；
    c. 電子電路穩定性下降，絕緣損壞；
    d. 加速高分子材料和絕緣材料（liào）老化，包括氧化、開裂、化（huà）學反應等；
    e. 材料膨脹（zhàng）造成機械應力增大或磨損增大。

    參考標準

    IEC 60068-2-2:2007《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》
    GJB128A-97 《半導體分立器件試驗（yàn）方法》
    MIL-STD-810F《環境工（gōng）程考（kǎo）慮與實驗室試驗》
    GJB4.2-83《艦（jiàn）船電子設備環境試驗 高溫試驗》
    GJB360A-96 電子及電氣元件試（shì）驗方法 方法108高溫壽命試驗
    MIL-STD-202F《電子及電（diàn）氣元件試驗方法》
    GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
    MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
    SJ/T 10325-92《汽車收放機環境（jìng）試驗要求和試驗方法（fǎ）》4.1 高（gāo）溫負荷試驗
    SJ/T 10325-92《汽車收放機（jī）環境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫（wēn）貯存試驗
    GB/T13543-92《數字通信設備環境試驗方法》
    QC/T 413-2002《汽車電氣設（shè）備基本技術條（tiáo）件（jiàn）》
    YD/T 1591-2009《移動通信手持機充（chōng）電器及（jí）接口技術要求（qiú）和測試方法》  

    實（shí）驗目的

    為了考察高溫負載對試樣的影響，確定試樣在高溫負載條件下工作的適應性。該實驗一般用（yòng）到 高溫試驗箱（xiāng）。

    實驗原理（lǐ）

    在高溫直流（liú）負載條件下，被試（shì）樣品會受（shòu）到（dào）高溫應力和電（diàn）應力（lì）的雙向作用，其電性能和內部結構（gòu） 都會有一定程度的（de）變化。試驗後對被試樣品（pǐn）的電性參數及外觀進行（háng）檢查（chá），就（jiù）能判斷被試樣品抵 抗高溫和電流負載的能（néng）力。