高低（dī）溫低氣壓試（shì）驗箱是一種模擬高海拔（bá）地區的壓力、溫度、濕度等環境參數的試驗設備。在航空、航天、軍工領域運用廣泛（fàn）。但是目前（qián）生（shēng）產製造的高低溫低（dī）氣壓環境設備，都（dōu）普遍存（cún）在著溫度均勻性和其它各項技術指標偏差很大，很難得到較為準確、理想的試驗結果。

許多產品的試驗報告及實地考察都反（fǎn）映出氣壓降低對產品性能有重要影（yǐng）響，氣壓降低（dī）對產品的直接影響主要是（shì）氣壓變化產生的壓差作用。它對密封產品的外（wài）殼會產生一個壓力（lì），在這（zhè）個壓力作用下會使密封（fēng）破壞，降低產品的可靠性。然而，氣壓降低的（de）主要作用還在於因氣壓降低伴隨著大氣密度的降低，由此會使產（chǎn）品的性能受到很（hěn）大的影響。對產晶性能的影響主要有三方麵。

 目前，國內外對低氣壓環境對產品的（de）影響及失效（xiào）機理都（dōu）做了大量的研（yán）究，國內外也都製定了低氣壓試驗的（de）相關標準，如國軍標GJB150.2A-2009的4.1.2.2條（tiáo）、4.1.3.2條就給出了低氣壓（yā）環境可能導致裝備（產品）產（chǎn）生下列物理、化學效（xiào）應及電效應：

電子元器件低氣壓（yā）試驗（yàn）(圖)2016-07-078:58瑞（ruì）凱儀器-->一、試驗及標準1、試驗目的：常見低氣壓（yā）試驗的試驗目的通常有3種：1）確定產品在常溫條件下（xià）能（néng）否耐受低氣壓環境，在低氣壓環境下正常工作．以及耐受空氣壓力快速變化的能力。2）確定常溫條（tiáo）件下（xià）元件和材料在低氣壓下耐電（diàn）擊（jī）穿的能力，確定密封元件耐受氣壓差（chà）不被破壞......