冷(lěng)熱(rè)衝(chōng)擊試驗箱的溫度衝擊適(shì)用(yòng)於可(kě)能會在(zài)空氣溫度發生急劇變(biàn)化(指溫度變化率大於10℃ /min)的地方使用的電子產品,也可作(zuò)為一個環境應力篩(shāi)選(ESS)試驗,用(yòng)來(lái)激發故障。溫度衝擊是以不大於Imin 的轉換時(shí)間將產品依次暴露在高溫區域和低溫區域,並循環一(yī)定的次數按實際需要確定) ,通(tōng)常是(shì)為了揭示產品在低於極端(duān)溫度變化速率隻要試驗條件不超過產品(pǐn)的設(shè)計極限)下出現的安全性問(wèn)題和潛在的缺陷,而ESS試驗一般按GJB1032進行,高溫和低溫的(de)變化速率為5C/min,當溫度變化速率大於10℃/min時,將使用溫度衝擊(jī)來替代環境應力篩選。
1)程序I恒(héng)定。主要(yào)用於揭示“溫度急劇變化”對裝(zhuāng)備的影響,該試驗中“溫度急劇變化”要比單純的高溫試(shì)驗和(hé)低(dī)溫試驗對產(chǎn)品的影響更重要(yào)。特別是要用“更嚴酷的溫度變化(huà)”來(lái)評價電子產品的安全性(xìng)或初始設計是否滿足要求或必須用“極值溫(wēn)度”對產品進行考(kǎo)核時,均需采用(yòng)程序I ,如圖1所示。
2)程(chéng)序II 循環。主要用於對真實環境進行模擬,因為高溫(wēn)值是隨日循(xún)環全國1%工作極值相應溫度及濕度日變化,見(jiàn)GJB1172.2- 1991)而變化的。如(rú)圖2所示。
本文標簽: 冷熱(rè)衝擊試驗箱 溫度衝擊試驗
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