試驗條件：將電子產品放入高低溫試驗箱（xiāng）通電老（lǎo）化
    高溫（wēn）參數設置（zhì）：溫度45℃、濕度80% RH、時間（jiān）24 hrs
    低溫參數設置：低溫0℃、時間24 hrs
    試驗方法：
    試驗一：高溫運行
    1、樣品應在不包裝、不同點（diǎn）和正常工作位（wèi）置（zhì）的狀態下放入具有室溫的試（shì）驗箱內，

    2、箱內溫度逐漸升溫至所設置的溫度，當電子產品達到溫度穩定後，接通電源（yuán）持續工作（zuò）16小時，

    3、樣品斷開電源，箱內溫（wēn）度降低至正常（cháng）試驗大氣條件範圍內的常溫常壓下，

    4、恢複兩小時；
    5、對試驗產品進行全方麵的檢測。
    試驗二：低溫運行
    1、電（diàn）子產品應在不包裝、不同點和正常（cháng）工作位置的狀態下放入（rù）具有（yǒu）室溫（wēn）的試（shì）驗箱內;，
    2、高低溫試驗箱內溫度（dù）逐漸降低至所設置的溫度，當（dāng）樣品達到溫變穩定後擱置2小時，然後接通電源持（chí）續（xù）工作1小時；
    3、樣品斷開電源，試驗箱內溫度降低至正常試驗大氣（qì）條件範圍（wéi）內的常溫常壓下，
    4、箱內溫度上升至正常試驗大氣條件範圍內（nèi）的常溫（wēn）常壓下，
    5、恢複兩小時；
    6、對試（shì）驗產品（pǐn）進行全方麵的檢測；判定標準：
    試（shì）驗結束後，將樣品拿入室（shì）溫中恢複至少（shǎo）或以上，再對樣（yàng）品（pǐn）進行外觀、功能檢驗產品外觀應無損、功（gōng）能正常、結構件與控製元件應（yīng）完整、無機械損傷（shāng）。