試驗條（tiáo）件：將電子產（chǎn）品放入高低溫試（shì）驗箱通電老化
    高溫參數設置：溫（wēn）度（dù）45℃、濕度80% RH、時間24 hrs
    低溫參數設置：低溫0℃、時間24 hrs
    試驗方法（fǎ）：
    試驗一：高溫（wēn）運行
    1、樣（yàng）品應（yīng）在（zài）不包裝、不同點和正常工作位置的狀態下放入具有室（shì）溫的試驗箱內，

    2、箱內（nèi）溫度（dù）逐漸升溫至所設置的溫度，當電子產品（pǐn）達到溫度穩定後，接通電源持續工作16小時，

    3、樣品斷開（kāi）電源，箱內溫度降低至正常試驗大氣條件範圍內的常溫常壓下，

    4、恢複兩小時；
    5、對（duì）試驗產品進（jìn）行全方麵的檢測。
    試驗二：低溫運行（háng）
    1、電子產品應在不包裝、不同點和正常工作位置的狀態（tài）下放入具有室溫的試驗箱內;，
    2、高低溫試驗箱內溫度逐漸降低至所設置的溫度，當樣品達到溫變穩定後擱置2小時，然後接通電（diàn）源持續工作1小時；
    3、樣品斷開電源，試驗箱內溫度降低至正常試驗大氣條件範圍（wéi）內的常溫常壓下，
    4、箱內溫度上升至正常試驗大氣條件範圍（wéi）內的常溫常壓下，
    5、恢複兩小時；
    6、對試驗產品進行全方麵的檢測（cè）；判定標準：
    試驗結束後，將樣品拿入（rù）室溫中恢（huī）複至少（shǎo）或以上（shàng），再對（duì）樣品進行外觀、功能檢（jiǎn）驗產（chǎn）品外觀應無（wú）損、功能正常、結構件與控製（zhì）元件應完整、無機械損傷。