HAST與HALT、HASS之間的關係與區別
作者：
salmon範
編輯：
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來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2020.11.09
高加速應（yīng）力（lì）試驗(HAST)是指，通過使用高於正常（cháng）工作應力，對器件實施（shī）相應試驗，確定器件薄弱環（huán）節及極（jí）限參數。主要分為（wéi）高加速（sù）壽命試驗(HALT)和高加速應力篩選(HASS)，其特點是通過人為的對器件施加各種遠超過器件設計規範規定的敏感（gǎn）應力組合，快速地將器件內部缺陷或薄弱（ruò）環節激發出來，從而剔（tī）除有缺陷的器件，提高器（qì）件使（shǐ）用（yòng）可靠性。
高加速壽命試驗（yàn）(HALT)屬於破壞性試驗（yàn），主要使用在器件的設計環節，通過逐步（bù）升高器（qì）件的試驗應（yīng）力，確定器件的（de）工作裕度值，從（cóng）而得（dé）出器件對環境的耐受能力，改進設計。同時通過對器件實施一係列（liè）的高加速壽命試驗(HALT)，還可以確定器（qì）件在環境應力作用下的各（gè）應力極（jí）限值，為後續的高加速應力篩（shāi）選(HASS)剖麵參數的設計提供依據，得到高效的篩選（xuǎn）剖麵。HALT試驗的實施，一方麵提高（gāo）了器件的可靠性，另一方麵也降低了器（qì）件的（de）設計周期和維護成本。
高加速應力篩選（xuǎn）(HASS)是以（yǐ）傳統的ESS為（wéi）根本發展起來的（de）一（yī）種工藝方法，如表1所示，其目的在（zài）於，在不過度損傷器件有效壽命的基礎上，選用高水平的篩選（xuǎn）應力組合，高效的發現並（bìng）剔除缺陷器件，提高器件在實際應（yīng）用中的可靠性。
表1 高加（jiā）速應力篩（shāi）選與傳統ESS的比較
國外進（jìn）口的工業級電子器件，一般采用的是常規的篩選方法，當這種（zhǒng）經過常規篩選（xuǎn）的電子器件用於嚴苛的（de）航天任（rèn）務時，器件中未篩選出來的有（yǒu）缺陷的產品將發生失（shī）效，導致器件使用可靠性低，因此有必要針對（duì）電子器件進行高加（jiā）速應力篩選技術的研究，通過更（gèng）高的篩選應力（lì）將器件（jiàn）中有缺陷的產（chǎn）品盡可能多（duō）的篩選出來。
