HAST與HALT、HASS之間的（de）關係與（yǔ）區別
作（zuò）者：
salmon範
編輯：
瑞（ruì）凱儀（yí）器
來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2020.11.09
高加速應力試驗(HAST)是（shì）指，通過使用（yòng）高於正常工作應力，對器件實施相（xiàng）應試驗，確定器件薄弱環（huán）節（jiē）及極限參數。主要分為高加速壽命試驗（yàn）(HALT)和高加速應力篩選(HASS)，其特（tè）點是通過人為的對器件（jiàn）施加各種遠超過器件設計規範規定的敏感應力組合，快速地將器件內部（bù）缺陷或薄（báo）弱（ruò）環節激發出來，從而剔除有（yǒu）缺陷的器件，提高器（qì）件使用可靠性。
高加速壽命試（shì）驗(HALT)屬於破壞性試驗（yàn），主要使用在器件的設計環節，通（tōng）過逐步升高器件的試驗應力，確定器件的工作裕度值，從而（ér）得出（chū）器件對環境的（de）耐受能力，改進設計。同時通過對（duì）器件實施一係列的高加速壽命試驗（yàn）(HALT)，還可以確定器（qì）件在環境應力作用（yòng）下的各應力極限值，為後（hòu）續的（de）高加速應力篩選（xuǎn）(HASS)剖麵參數的設計提供依（yī）據，得到高效的篩選剖麵。HALT試驗的實施，一方麵提高了器件的可靠性，另一方麵也降低了器件的設計周期和維護成本。
高加速應（yīng）力篩選(HASS)是以傳統的ESS為根本發展起來的一（yī）種工藝方法，如（rú）表1所示（shì），其目的在於，在不過度損傷器件有效壽命的基（jī）礎上，選（xuǎn）用高（gāo）水平的篩（shāi）選應力組合，高效的發現並剔除缺陷（xiàn）器件，提高器件在實際應用中（zhōng）的（de）可靠性。
表1 高加速應力篩選與傳統ESS的比較
國外進口（kǒu）的工業級電子器件，一般采用的是（shì）常規的篩選方法，當這種經（jīng）過常規篩選的電子器（qì）件（jiàn）用於嚴苛的航天任務時，器件中未篩選（xuǎn）出來的有缺陷的產品將（jiāng）發生失效，導致器件使用可靠性低，因此有必要針對電子器件進行（háng）高加速（sù）應（yīng）力篩選技術的研究，通過更高的篩選應力將器件中有（yǒu）缺陷的產品盡可能多的篩選出來。
