因為目前的測試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽（shòu）命和需（xū）花費冗長的時間。因此，有其他的團隊開始研究加速壽命測試方式和壽命推估模型，而Highlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)是目前有可能拿來做加速壽命推估的測試方法。