因為目（mù）前的測試方式都不足（zú）以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費（fèi）冗長的時間。因（yīn）此，有其他的團隊開始研究加速壽命測試方式和壽命推估模（mó）型，而Highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST)是目前有可能拿來做加速（sù）壽命（mìng）推估的測試方（fāng）法。

    HAST 是由固（gù）態技術協會(JEDEC)所製定的測試方法，主要是用來進行半導體封（fēng）裝的可靠度測試，可測（cè）試封（fēng）裝體老化的程度以及水氣入侵的速度（dù）。主要的測試條件有兩個110℃ -85% RH和130℃-85% RH。在S.I.Chan的研究中，他們分析（xī）高功率LED芯片在（zài）經過（guò）HAST和一般環境(25℃-50%RH)測試後，芯片特性劣化的機製是否相同。在一（yī）般的（de）測試條件下經過2900小時的測試後，LED芯片會出現光通量衰（shuāi）減（jiǎn）、光譜特性改變（biàn）、封裝材料變色和氣泡產生（shēng）以及熱阻上升等現象。而在HAST的測試中可觀察（chá）得到更（gèng）為顯著的現象，且無其他異常現象發生（shēng），這表示了HAST確（què）實有加速劣（liè）化機製的效果。

    在圖3中，可以看（kàn）到LED芯片的光通量在HAST測試中（zhōng），下降的速度比一（yī）般情況下（xià）要來的快。但隻靠HAST的測試是無法推測出燈具的使用壽命，還需（xū）要一個壽命推估模型。W.D. van Rriel提到利用Monte Carlos approach和hybrid approach using BBN and Markov Chain methodology這兩（liǎng）種方法來推估燈具係統的壽命，但是推估過程容易因為LED燈具係統若使用較多元件而變得相當複（fù）雜。