高溫貯存試驗通常用於確定貯存條件（jiàn）下時間和溫度（dù）對熱故障機製的影（yǐng）響，以及固（gù）態電子設備（包括非易失性存儲設備）的時間-故障分布（數據保（bǎo）留故障重建機製）。在試驗過程中，在不施加電氣條（tiáo）件的情況下，使用加速應力溫度，根據時間、溫度和包裝（zhuāng）（如有），利用（yòng）阿倫（lún）尼（ní）烏斯加速方程建立了熱失（shī）效（xiào）機理模型。