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芯片(piàn)可靠性測試之<i style='color:red'>hast高壓加速老化測試</i>

芯片可靠(kào)性測試之hast高(gāo)壓加速老化測試

測試隻占(zhàn)芯片各個(gè)環節的5%,看似是“便宜”的,在每(měi)家公司都喊著“降低成本”的時候,人(rén)力成本不斷的(de)攀升,晶圓廠和封裝廠都在乙方市場中叱吒(zhà)風雲,似乎隻有測試這一(yī)環節沒有那麽(me)難啃,於是“降低(dī)成本”的算(suàn)盤就落在了(le)測試的頭上了。

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