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10立(lì)方步入式高低溫試驗箱

10立方步(bù)入式高低溫試驗箱

10立方步入(rù)式(shì)光伏組件濕熱冷凍箱溫度範(fàn)圍-50~100°C,線性區間(jiān)85°C~-40°C,帶載>600kg,光伏組(zǔ)件線(xiàn)性升降溫。滿足IEC61215:2016-2地麵光伏組件熱循環試驗標準,濕(shī)凍試驗標準。用於確定光伏組件承受由於溫度重複變化(huà)而引起的熱失配熱疲勞,以及承受高溫高濕(shī)之後(hòu)的零下溫(wēn)度影響。
HAST非飽和高壓加速老化試驗機

HAST非(fēi)飽和高壓加速老化(huà)試驗機

本設備(bèi)廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料(liào)、高分子(zǐ)材(cái)料、EVA、光伏組件等行業相(xiàng)關之產品作加速老化(huà)壽命試驗。滿足試驗標準:GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等
<i style='color:red'>光伏(fú)組件</i>濕凍循環試驗箱

光伏組件濕凍循(xún)環試驗箱

光伏組件濕凍循(xún)環試驗(yàn)箱標準機型有:100L、150L、225L、408L、800L、1000L的(de)內箱尺寸;備(bèi)注:50L~100L及1000L以(yǐ)上是非標定製產品,具體規(guī)格參數以方案書為準。低溫可選(xuǎn):-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃和常溫;高溫可選:+150℃、+180℃、+200℃;濕度範圍有:20%~98%RH(非標可選:5%~~98%RH、10%~98%RH)光(guāng)伏組件濕凍循環試驗箱是主要用與光伏行業,及太陽(yáng)能行業的必備測試設備,用於(yú)測試光(guāng)伏組件,主要是單晶矽組件,地麵用晶體矽光伏組件,地麵用(yòng)薄膜光伏組件等一係列的光伏組件進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定(dìng)試驗的溫度環境(jìng)變化後的參數及性能;
TCT溫度循環測試箱

TCT溫度循環測試箱

TCT溫度循環(huán)測試箱標準機型有:100L、150L、225L、408L、800L、1000L的內箱尺寸;備(bèi)注:50L~100L及(jí)1000L以上是非標定製產品,具體規格參數以方案書(shū)為準。低溫可選:-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃和常溫;高溫可選:+150℃、+180℃、+200℃;濕度範圍有:20%~98%RH(非標可選:5%~~98%RH、10%~98%RH)TCT溫度循環測試箱(xiāng)適(shì)合電子元(yuán)器件,半導體IC、芯(xīn)片、光(guāng)伏組件,電器,食品,車輛,金屬,化學,建材等工廠,科研單位,院(yuàn)校之用。
HAST非飽和高壓加速老化試驗箱

HAST非飽和高壓加速老化試(shì)驗箱

內箱容積(圓桶):¢300×D450、¢400×D550溫度範圍:+110~+132℃、+110℃~+147℃壓(yā)力範圍:壓(yā)力表(biǎo)+0.2~2.0kg/cm²、壓(yā)力表+0.2~3.0kg/cm²、壓(yā)力表+0.3~3.5kg/cm²濕度範圍:65%~100%R.H(可調)適用(yòng)範圍:本設備廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產(chǎn)品作加速老化壽(shòu)命試驗(yàn)。
高溫高濕環境(jìng)下<i style='color:red'>光伏組件</i>封裝材料的選型(xíng)

高溫高濕環境下光(guāng)伏組件封裝材料(liào)的選型

a)采用0水透的背板(含鋁(lǚ)背板,雙玻)可以有效的防止高濕環境下組件的失效;b)采用較低水透的(de)背板,搭(dā)配低VA含量(liàng)的EVA,可以延緩組件在高(gāo)濕環境下(xià)的衰減;c)需要開發新型背板,能透水同(tóng)時也能使得(dé)醋酸及時釋放,同樣(yàng)可以有效的防止高(gāo)濕環境下組件的(de)失效。d)雙(shuāng)85測試可以(yǐ)有效的評估組件能否在高濕環境下運行25年。
高溫高濕試驗箱對<i style='color:red'>光伏組件</i>PID測試的必要性

高溫高(gāo)濕試驗箱對光伏組件PID測試的(de)必要性

光伏組(zǔ)件PID測試是指在高溫高濕環(huán)境下(85℃和85%RH)給組件內部帶電體與(yǔ)邊(biān)框之間(jiān)施加等於組件係統額定電壓(±1000V或±1500V)的電壓(yā)偏差,當內部光伏(fú)電路相對於地麵為負(fù)偏壓(yā)時,框架和電池之間的電壓可導致玻璃中的鈉離子向電池表麵漂移,電池表麵通常具有氮化(huà)矽(SiN)抗反射塗層,如果這個(gè)塗層上的縫隙足夠大,允許鈉離子進入電池或(huò)電荷流向玻璃,形成的漏電流就(jiù)會通過邊框或(huò)安裝支架流入大地,從而出現PID效應。
關於(yú)光伏薄膜組件雙85濕(shī)熱試驗等效加(jiā)速的討論

關於光伏薄膜組(zǔ)件雙85濕熱試驗等效加速的討(tǎo)論

雙85高溫高濕試(shì)驗是光伏行(háng)業,及太陽(yáng)能行(háng)業的必備測(cè)試項目(mù),用於測試光伏組件,包括單晶矽組(zǔ)件,地麵用晶體矽光伏組件,地麵用(yòng)薄膜光伏組件等一係列的光伏組件,在高溫85℃、高濕(shī)85%RH環境下的運行,並可以再現環境所產(chǎn)生的破壞。
【技術貼】<i style='color:red'>光伏組(zǔ)件</i>鹽霧試驗介紹

【技術貼】光(guāng)伏組件鹽霧試驗介紹

光伏(PV)組(zǔ)件是用於在其(qí)生命周期內連續戶外暴露的電氣設備。在一些(xiē)特殊的地理(lǐ)條件下,如:鹽堿地、沿海等(děng)地,強腐蝕性的潮濕(shī)大氣,終可能導致光伏組件金屬部件的腐蝕和一些非金屬材料的性能惡化,影響其安全性能及輸出功率。
多晶矽<i style='color:red'>光伏組件</i>濕熱濕凍超量測試(shì)研究

多晶(jīng)矽光伏組件(jiàn)濕熱濕凍超量測試研究

隨著(zhe)生產工藝(yì)的逐步提高(gāo),IEC61215所(suǒ)測試(shì)的(de)量已不足以考驗組件的耐候性,也無法模擬或(huò)探索出組件在戶外實際所經受的失效形式。根據TÜV的分析,熱斑測試、濕(shī)凍測試、濕熱測試這3種測試的失效(xiào)率,

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