高溫高濕試驗箱對光（guāng）伏組件PID測試的必要性（xìng）
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發布日期： 2021.05.14
01、引（yǐn）言（yán）
近十年，光伏組件PID（Potential Induced Degradation，電（diàn）勢誘導衰減（jiǎn））效應導致組件功率大幅衰減（jiǎn）的現象一直是業內人士關（guān）注的焦點，東莞市草莓视频网站環境檢（jiǎn）測儀器有限公司是光伏組件PID測試設備——高溫高濕試驗箱生產廠家，也在不斷地對各種類型光伏組件的PID效應進行測（cè）試和研究，為光（guāng）伏組件供應商提（tí）供更合理的PID測試解決方案。草莓视频网站儀器具有強大的PID測試設（shè）備研發能力，同時也提供潮濕滲（shèn）透試驗設備，為（wéi）客戶提供高效的測試服務。
02、什麽是PID測試？
光伏（fú）組件PID測試是指在高溫高濕環境下（ 85℃和85%RH ）給組件內部帶電體與邊框之間施加等（děng）於組（zǔ）件係統額定電壓（±1000 V 或 ±1500 V）的電壓偏差，當內部（bù）光（guāng）伏電路相對於地麵為（wéi）負偏（piān）壓（yā）時，框架和電池之間的電壓可導致玻璃中（zhōng）的鈉離子向（xiàng）電池表麵漂（piāo）移（yí），電（diàn）池表麵通常具有氮化（huà）矽（guī）（SiN）抗反射塗層，如果這個塗層上的縫隙足（zú）夠大，允許鈉離子進（jìn）入電池或電荷流向玻（bō）璃，形成的漏電流（liú）就會通過（guò）邊框或安裝支架流入大地，從而出現PID效應。漏（lòu）電流將使電池片（piàn）的（de）載流子及耗（hào）盡層狀態發生變化、電路中的接觸電（diàn）阻和封（fēng）裝材料受到電化學腐蝕，出現電池片功率衰減、串聯電阻（zǔ）增大、透光率降低、脫層等現象（xiàng）影響組件發電量（liàng）及壽（shòu）命。
圖1 PID效應的漏電流路徑
03、PID測試的必要（yào）性
PID效應（yīng）對光伏組件的輸出（chū）功率影響巨（jù）大，是光伏電站發電量的“恐怖（bù）殺手”。因此，PID測試已成為光伏組（zǔ）件檢測項目中必不可少的項目之一。其標準IEC62804是由光伏組件性能（néng）測試標準IEC61215和（hé）光伏組件（jiàn）安全測試標準IEC61730結合而成，能夠很好的預判光伏組件在使用（yòng）過程中是否會發生PID效應。草莓视频网站儀器高溫高濕（shī）試（shì）驗箱嚴格按照檢測標準開展測試，或應客戶要求進行加嚴PID測（cè）試。
圖2 PID測試流（liú）程圖
04、PID測試數（shù）據對比（bǐ）
迄今為止，東莞市草莓视频网站環境檢測儀器有限公司以服務光（guāng）伏新能（néng）源的企業有漢（hàn）能集團、東方日升新能源、晶科能源、弘晨光伏、帝龍光（guāng）電、新奧光伏等，高溫高濕試驗箱對各種工藝技術（shù）的光伏組（zǔ）件（雙麵電池（chí）組件、大尺寸矽片組件、半片組件、疊瓦組件和其他高效電池技術的組件）均可做PID測（cè）試，測試的平均衰減（jiǎn）結果如（rú）下圖所示。
圖3 不同類型電池組（zǔ）件（jiàn）的PID測試對比
從圖示3中可以看出，無論哪種創新技術的（de）光伏組件，都存在不（bú）同程度的PID效應。
05、抗PID效應哪種組件更好？
另外，經過高溫高濕（shī）試驗箱的測試結果表（biǎo）明雙玻組（zǔ）件抗PID效應更（gèng）好。隨機調取100片常規組件與雙（shuāng）玻組件數據，從統計的數據中可以看（kàn）出這100片雙玻組件平均衰減低於常規組（zǔ）件的（de）衰減。究其原因主要（yào）是玻璃的水（shuǐ）蒸汽透過率幾（jǐ）乎為零，且雙玻組件（jiàn）沒（méi）有金屬邊框不需要接地的獨特設計，在原理（lǐ）上就抑（yì）製了（le）PID產生的可能。
圖4PID測試結果對比（bǐ）圖
06、結尾
光伏組件的PID效應到目前為止仍然存在，但隨著光伏（fú）產業的發展，業界同仁對PID效應機理和PID效應的對組件性能影響的探索已（yǐ）逐步深入，相信在不久的將來PID效應將會（huì）得（dé）到徹底解（jiě）決。
