為確保PCB電路板長時間使用的質量（liàng）與可靠度，很多PCB電路板製造廠家都進行SIR (Surface Insulation Resistance)表麵絕緣電（diàn）阻（zǔ）的試驗，透過其試驗方式找出PCB是否會發（fā）生MIG(離（lí）子遷（qiān）移)與CAF(玻纖紗陽極性漏電)現（xiàn）象，離子遷移與是（shì）在加濕狀態下(如：85℃/85%R.H.)，施加恒定（dìng）偏壓(如：50V)，離（lí）子化（huà）金屬向（xiàng）相反電極間移動（dòng）(陰極向陽極生長（zhǎng）)，相對電極還原成原來的金屬並析出樹枝狀金屬的現象，常造（zào）成短路，離子遷移非常脆弱，在（zài）通電（diàn）瞬間產生（shēng）的電流會使離子遷移本身（shēn）溶斷消失。

    試驗設備：

    HAST高壓加速壽命試驗機

    設備特點：

    1、低噪音設計，噪（zào）音值都控製在65dB 以下（xià）；

    2、曲線和數據保存，所有的試驗數據（jù）和曲線可通過USB按日期選擇拷貝保存，可記（jì）錄保存120天數（shù）據及（jí）曲（qǔ）線；

    3、緩降壓（yā）處理，可選排氣排水模式，防止試驗結束後樣件受到急劇壓力、溫度（dù）或（huò）水分蒸發（fā）的環（huán）境（jìng）影響。

    MIG與CAF常用的規範：

    IPC-TM-650-2.6.14.、IPC-SF-G18、IPC-9691A、IPC-650-2.6.25、MIL-F-14256D、ISO 9455-17、JIS Z 3284、JIS Z 3197等。

    試驗時間通常（cháng）一次就是1000h、2000h，對於（yú）產（chǎn）品的周期性來說（shuō）緩不應急，而HAST是一種試驗手法也是設備名稱，HAST高（gāo）壓加速壽命試驗機是（shì）提高環境應力(溫度&濕度&壓（yā）力)，在（zài）不（bú）飽和濕（shī）度環境下(濕度（dù）：85%R.H.)加快試驗過程縮短試驗時間，用來評定PCB壓合（hé）&絕緣（yuán）電阻，與相關材料的吸濕效果狀況，縮短高溫高濕的試驗時間(85℃/85％R.H./1000h→110℃/85％R.H./264h)，

    PCB的HAST試驗主要參考規範為：

    JESD22-A110-B、JPCA-ET-01、JPCA-ET-08。

    應（yīng）力與老化程度及加速時間（jiān）示（shì）意圖

    HAST加速壽命模式：

    ★提高溫度(110℃、120℃、130℃)

    ★維持（chí）高濕(85%R.H.)

    ★施加壓力(110℃/85%/0.12MPa、120℃/85%/0.17MPa、130℃/85%/0.23MPa)

    ★外加偏壓（yā）(DC直流電)

    PCB的HAST測試條件：

    1、JPCA-ET-08：110、120、130 ℃/85%R.H. /5～100V 

    2、高TG環氧多層板：120℃/85%R.H./100V，800小時

    3、低誘（yòu）電率多層板（bǎn）：110℃/85% R.H./50V/300h

    4、多層PCB配線材料：120℃/85% R.H/100V/800 h

    5、低膨脹係數&低表麵粗糙度（dù）無鹵素絕緣材料：130℃/ 85 % R.H/12V/240h

    6、感旋（xuán）光性覆蓋膜：130℃/ 85 % R.H/6V/100h
    7、COF膜用熱硬化型板（bǎn）：120℃/ 85 % R.H/100V/100h