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電容式觸(chù)摸屏環境適應可靠性測試

本(běn)規範規定了電容式觸摸屏單體環(huán)境適應(yīng)可靠性測試,明確了各個測試項的測試目(mù)的具(jù)體方法、判斷標準等

1、低溫測試

1.1測試目的:模擬低端條(tiáo)件下的儲存與使用(yòng),確定產品在低溫狀態下的適用性,不會在極端低溫條(tiáo)件下產品永久性損壞。
1.2測試條件
1)在-30℃環境(jìng)工作240小時;
2)測試樣品數量:10pcs(通電)+10pcs(不通電)
1.3測試(shì)程序
1)測試前對(duì)樣品電性能和主要指標以及外觀(guān)進行檢測,確保產品測試前OK

2)將20pcs樣品放置在高低溫試驗箱中,控製試驗箱(xiāng)溫(wēn)度按照穩定溫變(biàn)率降低,直至試驗箱(xiāng)溫度(dù)為-30℃,持續240小時進行測試,恢複常溫2h 後在再次檢查外觀、機械及各項性(xìng)能指標


低溫工作測試參數


1.4合格判據
1.產品取出高(gāo)低溫試驗箱後立即對外觀進行全檢,外觀不能出現氣泡,黃變,AF膜層脫落等失(shī)效現象
2.常溫狀(zhuàng)態下恢複2小後其外觀、機械功能和電氣功能正常;TP主要性能指標(電容值、線性度、靈敏(mǐn)度、準確度)達到要求;測試結果必須滿足全部OK,否(fǒu)則判(pàn)定為測試NG

2、溫度衝擊測試

2.1測試目的
驗證觸摸屏樣品經受急劇溫度變化(huà)的能力,驗證整機在快速溫變化(huà)時,是否可以正常工作。
2.2測試條(tiáo)件(jiàn)
溫度衝擊試驗箱設定:低溫-40℃,高溫85℃,高低溫各停留0.5小時,高低溫切換時(shí)間(jiān)小於5分鍾,共100個循環,每個循環包括低溫和高溫各1次停留(liú);
測(cè)試樣品數量:
a)樣品階段(V3IV4、VN1VN2):32pcs/次,V3V4一次,VN1IVN2一次爬坡階段(產量≥3K):≥64pcs
c)量產階(jiē)段:供(gòng)應商1pcs/班/生產線3.2.3測(cè)試程序
1)測試前對樣品(pǐn)電性能和主要指標以及外觀進行檢測;
2)樣品不通電,調節設定溫度衝擊試驗箱低溫溫度(dù)為-40℃,溫度衝擊試驗箱高溫溫度(dù)為85℃,(模式切(qiē)換時間小於5mins),1循環包括高溫30分鍾,低溫30分鍾,共進行100個循環。

溫度衝擊測(cè)試

2.4合(hé)格判據
l)測試完成後,測試樣品外(wài)觀、機械功能和電氣功能正常;TP主要性(xìng)能指標(電容值、
線性度、靈敏(mǐn)度、準(zhǔn)確度)達到要求

3、高溫高濕(shī)測試

3.1測試目的
確定觸摸屏樣品在(zài)高溫濕熱條件下的使用、存儲的適應性。
3.2測試條件
1)85℃,相對濕度85%,240小時,測(cè)試樣品(pǐn)全部通電
2)測試樣品數量:
a)樣品階段(V3V4、VN1VN2):32pcs/次,V3V4一(yī)次,VN11VN2一次
b)爬坡(pō)階段(duàn)(產量≥3K):通用(yòng)模組為64pcs;高風險模組≥96pcs
c)量產(chǎn)階(jiē)段:供應商1pcs/班(bān)/生產線
*注(zhù):對於前期評估出的部分技術風險較高的項目,在規格書中標明,將抽測(cè)試的樣本數量加大;風(fēng)險較高的項目包含使用到新技術、新工藝、新材料、新供(gòng)應商、新廠房等的項目,以及預(yù)估海量發貨的項目。
3.3測試程序
1)測試前對(duì)樣品電性能和主要指標(biāo)以及外(wài)觀(guān)進行檢測(cè);並且對TP 的 TX、RX通道的電壓信號用示波器或萬(wàn)用表進行測量,測量(liàng)TX/RX與GND之間電壓,確保通(tōng)道有電壓信號。
2)對樣品供電(diàn)保證其正常工作(zuò),並放置在溫濕度(dù)試驗箱中,對(duì)試驗箱內濕度(dù)進行控製並在2小時內升到85%RH,溫度升到85℃(參考以下測試曲線),,後(hòu)保持溫濕進行測試
3)測試完成後,拿出(chū)產品(pǐn)放置於大氣環境恢複2小時,對(duì)樣品進行外觀、機械及各項性能檢查。
3.4合格(gé)判據
1)240H測試完成後,在室溫放置2小時(shí)後,判定測試樣品外觀、機械功能和電氣功能正常;
TP主要(yào)性能指標(電(diàn)容值、線性(xìng)度、靈(líng)敏度、準確度)達到要求

4、組合應力測試

4.1測試目的
針(zhēn)對新材(cái)料、新工藝、新技術(shù)應用等,在研發階段發現其失效模式和缺陷,為分析改進提供可靠性試驗數據。
3.4.2測試條(tiáo)件
樣品不通電,設定溫度衝擊試驗箱低溫溫度為-40℃,溫度衝擊(jī)試驗箱高溫溫度為85℃,(模式切換時間小於5mins) ,1個循環包括高溫30 分鍾,低溫30 分鍾,共進行100個循環。溫度衝擊試驗檢查合格後的樣(yàng)品,進行通電溫濕度試驗(yàn),90%RH,溫度升到70℃,濕度90%RH,試驗持續時間240小時,分別在120小時,240小時進行功能和電性能測試。
4.3測試程序(xù)
1)樣品(pǐn)不通電,設定冷箱溫(wēn)度為-40℃,熱箱溫度為 85℃,(模式切換時間小於5mins),1個循環包括高溫30分鍾(zhōng),低溫30分鍾(zhōng),共進行100個循環。試驗結束(shù)後檢查樣品外觀、機械(xiè)功能和電氣功能(néng)正常;記錄TP主要性能指標(電容值、線性度、靈(líng)敏度、準確度)測試數據。
2)溫度衝(chōng)擊試驗檢查合格後的樣(yàng)品,進行通電溫濕度試驗,並且在通電溫濕度試驗前(qián)對TP 的 TX、RX通道的電壓(yā)信號用示波器或萬(wàn)用表進行測量,測量TX/RX與GND之間電壓,確(què)保通道有電壓信號。對試驗(yàn)箱內濕度進行控製並在2小時內升到90%RH,溫度升(shēng)到(dào)70℃ ,溫濕(shī)度試驗持續時間240小時,分別在120小時,240 小時(shí)進行恢複(fù)後的功能和電性能測試,記錄TP主要性能指標(電容值、線性度、靈敏度、準確度)測試(shì)數(shù)據。
4.4測試結果分析(xī)
測(cè)試完成後,應給出測試樣品外觀、機械功能和電氣功能檢查測試數據報告,給出樣品失效分析報告。

5、鹽霧測試

5.1測試目的
主要判定TP部件耐腐蝕(shí)能(néng)力(lì),以及在輕(qīng)度腐蝕環境下的適應性3.5.2測試條件鹽霧濃度為5%的 NaCI溶液,在35℃條件下連續噴24小時,然後移出進行16小時晾幹樣品數量: 10pcs
5.3測試程序
1)被測樣品的要求,將Sensor麵暴露在外,FPC用無影膠帶密封包住,防止(zhǐ)與鹽霧接觸
2)樣品在鹽霧測(cè)試前35℃條件下進行2小時的預處理3)測試(shì)時樣品不上電,樣品之間相互保持獨立
4)樣品暴露在鹽霧環(huán)境中,持續進行24小時。
5)測試結束後,將樣品從鹽霧試驗(yàn)箱移除,並在室溫環境下晾(liàng)幹16小時
5.4合格判據
測試完成後,測試樣(yàng)品外觀、機(jī)械功能和電氣功能正常。


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