草莓视频网站_高低溫試驗箱_恒溫恒(héng)濕(shī)試驗箱_冷熱衝擊(jī)試驗箱
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HAST設備

HAST設備

產品特點:

可定製(zhì)BIAS偏壓端子組數,提供產品通電測試

通過電腦安全便捷(jié)的遠程(chéng)訪問

多層級的(de)敏感數據保護

便(biàn)捷的(de)程序入口、試驗設置和產品監控

試驗(yàn)數據(jù)可以導出為Excel格式(shì)並通過USB接(jiē)口進行傳輸

可提供130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測試條件

服務熱線: 400-088-3892
產品(pǐn)簡介 / Introduction

產品 · 詳情product details

HAST

設備用途Equipment use

HAST設備用於評估非氣密性封裝(zhuāng)IC器(qì)件(jiàn)、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。通過溫度、濕度(dù)、大氣壓力條件下應用於加速濕氣的(de)滲透,可通過外部保護(hù)材料(塑封料或封(fēng)口),或在外部保護材料與金屬傳(chuán)導材料之間界麵。它采用(yòng)了嚴格的溫度,濕度,大氣壓、電(diàn)壓條件,該條件會加(jiā)速水分滲透到材料內部與(yǔ)金屬導體之間(jiān)的(de)電(diàn)化學反應。失效機製:電離腐蝕,封裝密封性。


準時交貨準時交貨率高達99% 立即谘詢

產品 · 特點Product features

  • 設計三種控製模式

    不(bú)飽(bǎo)和控製(幹濕球溫(wēn)度控製(zhì))、不飽和控(kòng)製(升溫溫度控製)、濕潤飽和控製。

  • 安全多重保護功能

    各種超壓超溫(wēn)、幹燒漏電及誤操作等多重人機保護(hù);

  • 穩定可帶電測試

    可定製BIAS偏壓端子組數,提供產品通(tōng)電測(cè)試;

  • 選擇濕度自由選擇

    飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)自由(yóu)設定;

  • 智能智能(néng)化高

    支(zhī)持電腦連接,
    利(lì)用USB數據、
    曲(qǔ)線導出保存

HAST高壓加速老化試(shì)驗箱

HAST試驗箱參數規格


    滿足測試標準

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗方法(fǎ) 試驗Cx:未飽(bǎo)和高壓蒸(zhēng)汽恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩(wěn)態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命(mìng)
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度(dù)及偏壓測試
    JESD22-A102 加速水(shuǐ)汽抵抗性-無(wú)偏置高壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度,偏(piān)置電壓,以及工作壽(shòu)命(IC壽(shòu)命(mìng)試驗)
    JESD22-A110 高(gāo)加速溫濕度應力試驗(HAST)
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽)等

    舉例:

    適用範圍:  該試驗檢查芯片及其他產(chǎn)品材料長期貯存(cún)條件下,高溫和時間對器件的影響。本規範適用於量產(chǎn)芯(xīn)片驗證測(cè)試階段的HAST測試需求,僅針對非密(mì)封封裝(塑料封(fēng)裝),帶偏置(zhì)(bHAST)和不帶偏置(zhì)(uHAST)的測試。
    溫度(dù)、濕度、氣壓、測試時間
    ➢ 通常選擇HAST-96,即:130℃、85%RH、230KPa大氣壓,96hour測試時間。 
    ➢ 測試過程中,建議調試階段監控芯片殼溫、功耗數據推算芯片結溫(wēn),要保證結溫不能過 高,並在測試過程中定期記錄。結(jié)溫推算方法參考《HTOL測試技術規範(fàn)》。
    ➢ 如果殼溫與環溫差值或者功耗滿足(zú)下表三種(zhǒng)關係時,特別是當殼(ké)溫與環溫差值超過 10℃時(shí),需考慮周期性的電壓拉(lā)偏策(cè)略。
    ➢ 注意測試起始時間是從環境條件(jiàn)達到規定條件後開始計算;結束時間為(wéi)開始降溫降壓操 作的時間點。

    電壓拉偏

    uHAST測試不帶電壓拉偏, 不需要關注該節;
    bHAST需要帶電壓拉偏 ,遵循以下原則:
    (1) 所有電源上電,電壓(yā):推(tuī)薦操作範圍電壓(Maximum Recommended Operating Conditions)
    (2) 芯片、材料功(gōng)耗小(數字部分不翻轉、輸入晶振短接、其他降功耗方法);
    (3) 輸入管(guǎn)腳在輸入電壓允許範圍內拉高(gāo)。
    (4) 其他管腳,如時鍾端、複位端(duān)、輸出管(guǎn)腳在輸出範圍內隨機拉(lā)高(gāo)或者拉低;

HAST設備(bèi)

HAST設備生產廠家

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生產 · 實(shí)力Productive strength

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HAST試驗箱

HAST試驗箱

溫度範圍:105°C~155°C控製精度:±0.5°C濕度範圍:65%RH~100%RH壓力範圍:+0.2~3.5kg使用時間:可持續使(shǐ)用500小時+升溫時間:約70分鍾(從室溫到120°C、85%RH到達時間)試(shì)驗數據可以導出為Excel格式並通過USB接口進行傳輸
快速溫度變化試(shì)驗箱

快速溫度變化試驗箱

溫度範圍:-70~180℃(可選:-60~180℃,-40~180℃)(可特殊定製(zhì))升溫速率:10℃/min線性(可定製)降溫速率:5℃/min線(xiàn)性(可(kě)定製)溫度波動度:≤±0.2℃溫度偏差:≤±2.0℃溫度均勻度:≤±1℃濕度(dù)範圍:10%R.H~98%R.H(+10℃~95℃)溫度變化速率:升溫速率:不小於2.0℃/min(-55~+85℃全(quán)程(chéng)平(píng)均)降溫速率:不小於2.0℃/min(+85~-55℃全程平均)
步入式高低(dī)溫(wēn)濕熱試(shì)驗箱

步入式(shì)高低(dī)溫濕熱試驗箱

品牌(pái):RIUKAI產地:廣東·東莞內(nèi)箱容積:17000L(可定製)溫度範圍:-40℃~+150℃(可定製低溫-70℃、-60℃、-20℃等)濕度範圍:20%~98%RH(可定製5%~98%RH、10%~98%RH)步入式高低溫濕熱試驗箱是用於對產品按(àn)照國(guó)家標準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產品的(de)物理以及其(qí)他相關特性進行環境(jìng)模擬測試的儀器。
冷熱衝擊(jī)試(shì)驗(yàn)箱

冷熱衝擊試(shì)驗箱

高溫槽溫度範(fàn)圍:+60℃~+200℃(非(fēi)標可(kě)定製180℃、200℃)低溫槽溫度範圍:A(-55℃~-10℃);B(-65℃~-10℃);C(-80℃~-10℃)升溫時(shí)間:+60℃~+200℃≤35min降溫時(shí)間:A(+20℃~-55℃)≤70min;B(+20℃~-65℃)≤80min;C(+20℃~-80℃)≤90min試驗方式:氣動切(qiē)換,吊籃(lán)移動式衝擊恢複時間:≤5min吊籃(lán)移動時間:10S以內

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