瑞（ruì）凱_高低溫試驗箱_恒溫恒濕試（shì）驗箱（xiāng）_冷熱衝擊試驗箱
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HAST老化試驗箱非標定製

HAST老化試驗箱非標定（dìng）製

產品特（tè）點：

可定製BIAS偏壓（yā）端子組數，提供產品通電（diàn）測試

通過電腦（nǎo）安全便捷的遠程訪問（wèn）

多層級的敏感數據（jù）保護

便捷的程序入口、試驗（yàn）設置和（hé）產（chǎn）品（pǐn）監控

試驗數據（jù）可以導出（chū）為Excel格式並通（tōng）過USB接口進（jìn）行（háng）傳輸

型號：HAST係列                生產方式： 非標定製

品牌（pái）： RIUKAI                      產地： 廣東·東（dōng）莞

非標定（dìng）製產品詳情請谘詢客服

服務熱線： 400-088-3892
產品簡介 / Introduction

產品 · 詳情product details

HAST

設備用途Equipment use

HAST設備用（yòng）於評估非氣密性封（fēng）裝IC器件、金屬材料等在濕度環境（jìng）下的可靠性。通過溫度、濕度、大氣壓力條件下（xià）應用於（yú）加速（sù）濕氣的滲透（tòu），可通（tōng）過（guò）外部保護材（cái）料（塑封料或封口），或在外部保護材料與金屬傳導材料之間界（jiè）麵。它采用了（le）嚴格的溫（wēn）度，濕度，大氣壓、電壓條件，該條件會加速水分滲透到材料內部與金屬導體之間的電化學反（fǎn）應。失效機製：電離腐蝕，封裝密封性。


準時交貨準（zhǔn）時交貨率高達99% 立即谘詢

產品 · 特點Product features

  • 設（shè）計（jì）三種控製模式

    不飽和控製(幹濕球溫度控製)、不飽和控製(升溫溫度控製)、濕潤飽和控製。

  • 安全多重保護功能

    各種超壓超（chāo）溫、幹（gàn）燒漏電及誤操作等多重人機保護；

  • 穩定可帶電測試

    可定製（zhì）BIAS偏壓端子組數，提供產品通電測試；

  • 選擇濕度自由選擇

    飽（bǎo）和（100%R.H濕度）與（yǔ）非飽和（75%R.H濕度）自由設定；

  • 智能智能化高

    支持電腦連接，
    利用USB數據、
    曲線導出保存

HAST-900L高（gāo）壓加速老化試驗箱

HAST試（shì）驗箱規格參（cān）數


    滿（mǎn）足測試（shì）標準

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環（huán）境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第（dì）2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態（tài）濕熱(不飽合加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環（huán）溫（wēn）濕度偏置壽（shòu）命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及（jí）偏壓測試（shì）
    JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸（zhēng）煮
    JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命（mìng）試（shì）驗）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏（piān）置電壓未飽和高壓蒸汽)等（děng）

    舉例：

    適用範（fàn）圍:  該試驗檢查芯片及（jí）其他產品材料長期貯存條件下，高溫和時間對（duì）器（qì）件（jiàn）的影響。本規範適用於量產芯片驗證測試階段的HAST測試需求（qiú），僅（jǐn）針（zhēn）對非密封封裝（塑料（liào）封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
    溫度、濕度、氣壓（yā）、測試時間
    ➢ 通常選擇HAST-96，即（jí）：130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。 
    ➢ 測試（shì）過程（chéng）中，建議調試階段監控芯片殼溫、功耗（hào）數據推算芯片（piàn）結溫，要保證結溫不能過 高，並在測試過程中定期記錄。結溫推算方法參考《HTOL測試技術規範》。
    ➢ 如果殼（ké）溫與環溫差值或者功耗滿足下表三種關（guān）係時，特別是當殼溫與環溫（wēn）差值超過（guò） 10℃時，需考慮周期（qī）性的電壓拉偏策略（luè）。
    ➢ 注意測試起始（shǐ）時間是從環（huán）境條件達到規定條件後開始計算；結束時間為開始降溫降壓操 作的時間點（diǎn）。

    電壓拉（lā）偏

    uHAST測試（shì）不帶電壓拉偏， 不（bú）需要關注該節；
    bHAST需（xū）要帶（dài）電壓拉偏 ，遵循以下原（yuán）則：
    （1） 所有電（diàn）源上電，電壓：推（tuī）薦操作範（fàn）圍電壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
    （2） 芯片、材料功耗小（數字部分不翻轉、輸入（rù）晶振短接、其他降功耗方法）；
    （3） 輸入管腳在（zài）輸入電壓允許範圍內拉高（gāo）。
    （4） 其他（tā）管（guǎn）腳，如時鍾端、複位端、輸（shū）出（chū）管（guǎn）腳在輸出範圍內隨機拉高或者拉低；

HAST設備

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HAST試（shì）驗箱

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溫度範圍:105°C~155°C控製精度:±0.5°C濕度範圍:65%RH~100%RH壓力範圍:+0.2~3.5kg使用時間:可持續使（shǐ）用500小時+升溫時間（jiān）:約70分鍾(從室溫到120°C、85%RH到達時間)試驗數據可以導出為Excel格（gé）式（shì）並通過USB接口進（jìn）行傳（chuán）輸
快速溫度（dù）變化試驗箱

快速溫度變化試驗箱

溫度範圍：-70~180℃（可選：-60~180℃，-40~180℃）（可特殊定製）升溫速率：10℃/min線性（可定製）降溫速率：5℃/min線性（xìng）（可定製（zhì））溫度波（bō）動度：≤±0.2℃溫度偏差：≤±2.0℃溫度均勻度（dù）：≤±1℃濕度範圍：10%R.H~98%R.H(+10℃~95℃）溫（wēn）度變化（huà）速率：升溫速率：不（bú）小於2.0℃/min（-55~+85℃全程平均）降溫速率：不小於2.0℃/min（+85~-55℃全程平均）
步入（rù）式高（gāo）低溫濕（shī）熱試驗箱

步入式高低溫濕（shī）熱試驗箱

品牌：RIUKAI產地：廣東·東莞內箱容積：17000L（可（kě）定製）溫（wēn）度範圍（wéi）：-40℃～+150℃（可定製低溫-70℃、-60℃、-20℃等）濕度範圍：20%～98%RH（可定製5%~98%RH、10%~98%RH）步入式高低溫濕熱試驗箱是用於（yú）對產品按（àn）照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫（wēn）、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環境模擬（nǐ）測試的儀器。
冷熱衝擊試驗箱

冷熱衝擊試驗箱

高溫槽溫度範圍：+60℃～+200℃（非標可定製180℃、200℃）低（dī）溫槽溫度範圍：A(-55℃～-10℃);B(-65℃～-10℃);C(-80℃～-10℃)升溫時間：+60℃～+200℃≤35min降溫時間：A(+20℃～-55℃)≤70min;B(+20℃～-65℃)≤80min;C(+20℃～-80℃)≤90min試驗方式：氣動切換，吊籃移動式（shì）衝擊恢複時間：≤5min吊籃移動時間：10S以（yǐ）內

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