芯片（IC）可靠性測試好幫手——草莓视频网站儀器HAST試驗箱係列
作者：
salmon範
編（biān）輯（jí）：
草莓视频网站儀（yí）器
來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2021.08.04
芯片是電子信息產品重要的元器件，是高端製造業的是核心基石！幾乎每種電子（zǐ）設備，電腦（nǎo）、手機、家電、汽車（chē）、高（gāo）鐵、電網、醫療（liáo）儀器、機器人（rén）、工業控製（zhì）等都使用芯片（piàn）。
由此可知，芯片在我們日常生活中充當了（le）極其重要的角色，當（dāng）然其品質也受到了人們的高度重視，但你知道一塊芯片需要做哪些環（huán）境可靠性測試呢？
草莓视频网站儀器來告訴你吧。
1、高低溫試驗：模擬IC在使（shǐ）用之前在（zài）一定濕（shī）度，溫度條件下存儲的（de）耐久力，也就是IC從生產到使用之（zhī）間存儲的可靠性。
2、高溫高濕試驗（THB）：評估IC產品在（zài）高溫，高濕（shī），偏（piān）壓（yā）條件下對濕氣的（de）抵抗能力，加（jiā）速其（qí）失（shī）效進程。
3、高壓蒸煮試驗（PCT）：評估IC產品在高溫，高濕，高氣壓條件下對（duì）濕（shī）度的（de）抵抗（kàng）能力，加速其失效過程。
4、高低溫循環試驗（TCT）: 評估IC產品中具有不同熱膨脹係數的金屬之間的界麵的接觸良率。方法是通過循環流動的空氣從高溫到低溫重複變化（huà）。
5、高溫（wēn）儲存試驗（HTST）: 評估IC產（chǎn）品在實際使用之前在高（gāo）溫條件下保持幾年不工作條件下的生命時（shí）間（jiān）。
此外，還有一個為重要的性能測試（shì），即高加（jiā）速（sù）溫濕度及偏壓測試（HAST），評估IC產品在偏壓下高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
可是怎麽知（zhī）道芯片是否存在（zài）失效呢？
那當然要使用草莓视频网站儀器所研（yán）製的HAST試驗箱啦！
草莓视频网站HAST試驗箱主要應用於芯片、半導體器件、金屬材料領域，通過爆（bào）米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因汙染造（zào）成之短（duǎn）路等相關（guān）問題。一（yī）般通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏（piān）置條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封（fēng））或外部保護材料和金屬導體的交接（jiē）麵。
HAST試驗箱特征：
1、可定製BIAS偏壓端子組數，提供產品通電測試；
2、通過（guò）電腦安（ān）全便捷的遠程訪問；
3、多層級的敏感數據保護；
4、便捷的程序入口、試驗（yàn）設置和產品監控（kòng）；
5、試（shì）驗數據可以導出為（wéi）Excel格式（shì）並通過USB接口進行傳輸；
6、可提（tí）供（gòng）130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣（qì）壓（yā）的測試條件；
7、出色的溫濕度精密控製邏輯，防止待測品潮（cháo）濕與結露的模式選擇；
8、壓力值采實際感應偵測（cè），確保溫度、濕度及壓力值準（zhǔn）確度。
芯片不僅僅要（yào）進行環（huán）境可靠性測試，每一步品質檢測關卡都要嚴格把控，隻有符合所有性（xìng）能要求的芯片（piàn）才能算得上是品質優良，真正確保電子產品的穩定性和安全性（xìng）。
