HAST和BHAST、UHAST之（zhī）間的聯係
作者（zhě）：
salmon範
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來源：
www.tuyatang.com
發布日（rì）期： 2021.05.24
HAST試驗箱用於評估非氣密（mì）性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。通（tōng）過溫度、濕度、大氣壓力條（tiáo）件（jiàn）下（xià）應用於（yú）加（jiā）速濕氣的（de）滲透，可通過外（wài）部保（bǎo）護材料（塑封料或封口），或在外（wài）部保護材料與（yǔ）金屬傳導（dǎo）材料之間界（jiè）麵（miàn）。它采用了嚴格的溫度，濕度，大氣壓、電壓條（tiáo）件，該條件會加速水分滲透到材料內部與金屬導體之間的電化學反應。
適用範圍: 該試（shì）驗檢查芯（xīn）片長期（qī）貯存條件下，高溫和時間對器件的影（yǐng）響。本（běn）規範適用於量產芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封（fēng）封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
溫（wēn）度、濕度、氣壓、測試時間
➢ 通常選擇HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。
➢ 測試過程中，建議調（diào）試階段監控芯片殼溫、功耗（hào）數據推算芯（xīn）片結溫，要保證結溫不能過 高（gāo），並在測試過（guò）程中定期（qī）記錄。結（jié）溫推算方法參考《HTOL測試技（jì）術規範》。
➢ 如果殼溫與環（huán）溫差值或者功耗滿足下表三種（zhǒng）關係時，特別是當殼溫與環溫差值超過 10℃時，需考慮周期性的電壓拉偏策略。
➢ 注意測試（shì）起始（shǐ）時間是從環境條件達到規定條件後開始計算；結束時間為開始降溫降壓（yā）操
作的時間點。
電壓拉偏
uHAST測試不帶電壓拉偏， 不（bú）需要關注該節；
bHAST需要帶電壓拉偏 ，遵（zūn）循以下原則：
（1） 所有電源上電，電壓：推薦操作範（fàn）圍電壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片、材（cái）料功耗小（數字部分不翻（fān）轉、輸（shū）入晶振短接、其他降（jiàng）功（gōng）耗方法）；
（3） 輸入管腳在輸入電壓允許範圍內拉高。
（4） 其他管腳，如時鍾端、複位端、輸出管腳在輸出範（fàn）圍（wéi）內隨機拉高或者拉低；
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01 恒溫恒濕試驗箱
是模擬產品在氣（qì）候環境溫濕組合條件下（高低溫（wēn）操作與儲存、溫度循環、高溫高（gāo）濕、低溫低濕、結（jié）露試驗...等），檢測產品本身的適應能力與特性是否改變的測試設備。
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02 冷熱衝擊試驗箱
是用來測試材料結構或複合材料，在瞬間（jiān）下經極高溫及極低溫的連續環境下所能忍受的（de）程度（dù），借以（yǐ）在短時間內（nèi）試驗其（qí）因熱（rè）脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
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03 快速溫變試（shì）驗箱
是通過向（xiàng）待測品施加合理（lǐ）的（de）環境應力和電應力，使得由不良元器件、零部件或工藝缺陷等引起（qǐ）的產品早期缺陷加速變成故（gù）障，並加以發現和排除的過程（chéng），是一個經濟有效的工程研究、製造改進手段。
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04 HAST試驗箱
用於評估非氣密性封裝（zhuāng）IC器件、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。在溫度/濕度/偏壓條件下（xià）應用於加速濕氣的滲透，可通過外部保護材（cái）料(塑封（fēng）料（liào）或封口)，或在外部（bù）保護材料與金屬傳導材料之間界麵。
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05 步入式恒溫恒濕試驗室
測試產（chǎn）品在不同溫度、濕度等氣候（hòu）條件（jiàn）下的性能和壽命。應用於國防工業、航天工業、自動化零組件、汽（qì）車部件、電子電器件以及塑膠、化工、製藥（yào）工業（yè）相關產品的耐熱、耐寒測試。
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