原理：試樣在高溫高濕度以（yǐ）及偏壓（yā）的苛刻環境下，加速濕氣穿（chuān）過外部的保護層，或沿著（zhe）金屬（shǔ）和外保護層的分界麵穿透，造成試樣（yàng）的失效。
    標準：JESD22-110-B
    模塊設（shè）計：無
    設備物料：
    1、控製的環境： 需要在（zài）上升至特定的測試環境或從特定的環境下降時，保證壓力、溫度和相（xiàng）對濕度的HAST高壓加速老化試驗箱；
    2、溫度曲線記錄：需要記錄每個測試循環的溫（wēn）度曲（qǔ）線，以保證能核實壓力的有效性；
    3、試樣必須位於溫度梯度小處，離內壁至少3cm，不能（néng）接觸到熱源的直接輻射加熱； 
    4、減（jiǎn）少汙染
    5、去除離子汙染
    6、去離子水
    方法：

    1、溫度，相對濕度（dù）和時間

    2、偏壓方法：
    a)減少功率消耗
    b)盡量快（kuài）地交換針偏壓
    c)盡量（liàng）多（duō）地在芯片上分布位差
    d)在可運行的範圍內盡量加大電（diàn）壓
    e)以下兩（liǎng）種（zhǒng）方法可以滿足指導方法：
    1)連續偏壓一直流偏壓需要一直施加。當失效溫度比HAST高壓加（jiā）速（sù）老化試驗箱的環境（jìng）溫度高≤ 10℃ 時，或者加熱損耗小於200mW時失效溫度未知時，連續（xù）偏壓（yā）比循環偏壓要嚴格的多。當加熱損耗達到（dào）200mW，就（jiù）可以（yǐ）計（jì）算失（shī）效溫度。如果失（shī）效溫（wēn）度超過（guò）了HAST高壓加速（sù）老化試驗箱溫度（dù）5℃，則需要在結果中記錄失效溫度高於HAST高壓加速老化試驗（yàn）箱溫度（dù），因為產生了加速失效機理。
    2)循環偏壓-施加在試樣上的直流電壓需要以適當的頻率進行中斷（duàn）。如果偏壓的設置產生（shēng）了HAST高壓加速老化（huà）試驗箱溫度（dù）的上升，△Tja，達（dá）到10℃，當為了優化特定試樣類型時，循環偏壓要比連續偏壓更為嚴格。能量耗散導致的加熱會造成濕氣的（de）散開，減少（shǎo）和濕氣有關的失效機製（zhì）。當試（shì）樣不發生能量耗散時，循環偏壓在中斷（duàn）時允許（xǔ）濕氣的進入。50%周期的循環對（duì）大多數的塑料封裝電路板合適。對≥2mm厚度的需要≤2h，而＜2mm厚度的需要≤30min。當失效溫度超過（guò）壓力倉5℃或更（gèng）多（duō）時，需要用知名的熱阻抗和耗散（sàn）公式來計算（suàn）失效的溫度。
    3、偏壓的選擇與記錄

    4、測試樣品需要暴露在特定的溫濕度以及特定的電偏壓（yā）環境下（xià）。需要避免試樣過熱，幹（gàn）燥或者局（jú）部加熱或冷卻。
    5、升
    達到穩定的溫度和（hé）相對濕度的時間不（bú）超過3個小時。通過保（bǎo）證測試（shì）試驗箱（xiāng）內的溫度始終超（chāo）過濕球溫度計的溫度，來保證不會有水分凝結。升溫速率也不能太快以至於（yú）DUT溫度低於濕球溫度計溫度（dù）。幹濕溫度計需要一直記錄溫度，保證在主要的加熱（rè）開始時，相對濕度在50% 以上。在幹燥的實驗室內，HAST高壓加速老化試驗箱內環（huán）境（jìng）可能比這還（hái）要幹燥。
    6、降
    階（jiē）段，稍微下（xià）降（jiàng）到一定標準壓力（濕球溫度104℃）需要足夠長的時間保證試樣不產生（shēng）由於下降過快導致的認為因素。但是也（yě）不要超過3個小時。
    第二階段的下降時從濕球溫度的104℃到室溫需要讓測試箱排出壓力。沒有（yǒu）時間的限製，也可以對（duì）容器進行強冷。
    下降的部分都不允許水的凝結，為了保證測試（shì）倉的溫度始終超過濕球溫（wēn）度計。
    下降時需要保證模塑料封裝硬模的濕度。因此，在（zài）段下降的過程（chéng）中，相對濕度不能小於50%。
    失效判定：
    如果（guǒ）達（dá）到了參量的限製，或者（zhě）在惡劣的環境下不能證明（míng）其（qí）功能（néng）性，則判定該試樣在HAST測試中失效。