1、範圍

高度加速的溫度和濕度的試驗是為評價非可靠性，密封包裝的固體在（zài）潮濕（shī）的環（huán）境狀態裝置的用途。它采用外部防護材（cái）料（密封材（cái）料（liào）或（huò）蓋章）或（huò）沿外（wài）部之（zhī）間（jiān）的防護材料以及所通（tōng）過它通（tōng）過金屬導體接口。激活的應力通常作為“85℃/85%RH”穩態濕度壽命試（shì）驗（JEDEC標準第22號- A101）相同的失效機理。

2、儀器

測試（shì）需要一個壓力室保持特定的溫度和相對濕度持續（xù）能力，同（tóng）時提供被測電氣連接的設備在指定的偏置配置—— HAST高壓加速（sù）老化試驗箱
2.1控製（zhì）條件
必（bì）須能夠提供在斜坡上升的壓力（lì），溫度和相對（duì）濕度控製的條件下，和斜（xié）坡下降從指定的測試條件。校（xiào）準記錄應確認該設備避免冷凝（níng）設備上測試下（被（bèi）測件）在炎熱的斜坡（pō）上升和斜坡下降的熱負（fù）荷量和（hé）（零DUT的功耗（hào））的條件比50℃。校準記錄應核實，對於穩定（dìng）狀態的條件和熱負（fù）荷大，測（cè）試條件（jiàn）下，在3.1內指定的公差維持。
2.2溫度分布
對每個測試周期永久（jiǔ）記錄（lù）的（de）溫（wēn）度曲（qǔ）線（xiàn），建議，使壓力的有（yǒu）效性可以驗證。
2.3設備壓力下
HAST高（gāo）壓加速老化試驗箱必須物理位置，以盡量減少溫（wēn）度梯度。壓（yā）力之下裝置應設在不低於3厘米的內部腔表麵，絕（jué）不能受到（dào）直接從加熱器輻射熱。對哪些設備安裝應著眼於盡量減少與蒸汽循環幹擾議會（huì）。
2.4限度地減少汙染釋放
必須小心的木板和插座（zuò）材料的選擇，盡量減少汙染排放和（hé）減少退化，由於腐（fǔ）蝕和其他機製。
2.5離子汙染
離子汙染測試儀器（卡籠，測試板，插座，電線儲藏容器（qì）等），應加以控製，避免測試工件。
2.6去離子水
去離子與的1兆歐電阻在室（shì）溫下厘米的水不得使用。

3、測試條件

測試條件包括溫度，相對濕度，並與電（diàn）力偏（piān）見配置特定於（yú）設（shè）備結合在一起的（de）時間。
3.1溫度，相對濕度（dù）和期限
注1：公（gōng）差適用（yòng）於整個可用試驗區。
注2：僅供參考.
注3：測試（shì）條件（jiàn）適用於任何臨時外讀數不斷。
注4：臨時讀數，設備應退（tuì）還強調在4.5內（nèi）指定的時間。
注5：對於部件（jiàn）達到24小時或更短時（shí）間內吸收均衡，加速壽命試驗測試至少相當於1000小時85℃/85%RH相對濕度。對於部分需要超過24小時，達到指定的加速壽命試驗條件（jiàn）的平（píng）衡，時間應延長，使部分達（dá）到平衡。
注6：注意：對於塑料封（fēng）裝的微電路，它是（shì）已知的有效（xiào）水分減少玻璃成型複合轉變溫度。上述有效（xiào）玻璃（lí）化轉變溫度應力溫度（dù）可能導致失敗的機製無關的標準85℃/85%RH相對濕度壓力。
3.2偏置指南
申請偏見根據以下原則：
1）盡 量減少功率損耗。
2）盡可能管腳偏見。
3） 發布（bù）到金屬片上的差異盡可（kě）能（néng）。
4）工作範圍 內限度地提高電（diàn）壓。
注意： .上述指南優先取決於機（jī）製和具體設備的特性（xìng）。
5）  以（yǐ）下兩種類型的偏見（jiàn）可以用來滿足這些準則，更嚴重者為準：
1）  連續偏差-直流偏置應適用繼續。連續偏見比騎車更嚴重偏差時，模具（jù）溫度=*10℃， 比室環境溫（wēn）度較高或，如果芯片溫度不知道當DUT的（de）熱量低於200 mW的。如果（guǒ）DUT的散（sàn）熱超過200毫瓦，那麽模具溫度（dù）應計算。如果芯片溫度超過超過5℃的環境溫度則室以上（shàng）室周圍的模具（jù）溫度升高，應在測試結果的報告（gào），因為失敗的機製，加速（sù）包括將受到影響（xiǎng）。
2）  循環的偏見-直流電壓適用於被測試的設備應定期與適當的（de）頻率和（hé）占（zhàn）空比中斷。如果在上述會議廳周圍，△Tja 。超過10℃，然後循環偏見，當一個特定的設備類（lèi）型溫度（dù）。上升偏置優化（huà）配置的結果，將會更重於連續偏見。由於功耗的結果往（wǎng）往會推動加熱（rè）水分遠離死亡，從而阻礙水分有關的失效機（jī）理。循環偏差允許在關閉期間的水（shuǐ）分收集裝置的功（gōng）耗（hào）時不會發生的死亡。騎自行車用50%的占空比DUT的偏見，是適合大（dà）多數塑料封裝的微電路。在循環應力期應="2小時在軟件包”= 2毫（háo）米厚的=“30分鍾包"2毫米的厚度。模具的溫度，在已知的熱阻抗和散熱計（jì）算（suàn），應當引述的結果時（shí），它超（chāo）過5℃或以上的室環境。
3.2.1選擇和報告（gào）
選擇連續或周期性的偏見，以及是否（fǒu）報告（gào）的數額，其中片溫度超出（chū）室環境溫度的標準，總結如下表：
炎（yán）熱幹燥的（de）環境或條件，在設備上和電氣裝置冷凝結果應避免，特別是在斜坡上升和斜坡下降。
4.1斜升
到達的時間不得（dé）少於3小時穩定的溫度和相對濕度的條件。
應避免冷凝，確保試驗室（幹球）溫度（dù）超過（guò）在任何時候，濕球溫（wēn）度，而利率上升的坡道，不得高於速度可以確（què）保（bǎo）任何DUT的溫度不（bú）落後下麵的濕球溫度。
在幹和濕球溫度，應保持這樣（yàng）的相對濕度不低於50%顯著加熱後開始點。在幹燥室，會議廳（tīng）周圍本來可以比這少雨。
4.2緩降
在（zài）部分的斜坡向下一個（gè）輕微的正麵表壓（約104℃折射率濕球溫度（dù））應足夠（gòu）長，以避免由於測試工件快速減壓（yā），但不得超過3小時。
在坡道的第二部分從104℃折射率（lǜ）濕球溫（wēn）度降低到（dào）室溫，應（yīng）會出現室通風。沒（méi）有時間限製（zhì），並迫使該船（chuán）的冷卻是允許的。
冷凝設備上應避免在坡道的兩個部分，確保了試驗室（shì）（幹球）溫度超過在任何時（shí）候，濕球溫度。
緩降應保持（chí）成型封裝模具（jù）的複合水分。因此，相（xiàng）對濕度不（bú）得低於50%時的斜下的部分， 第1段。
4.3測試時鍾
測試時鍾啟動時的溫度和相對濕（shī）度達到（dào）設定點，在坡道開始下降（jiàng）停止。
4.4偏差
偏差在（zài）斜（xié）坡上升和斜坡下降（jiàng）的應用是可選（xuǎn）的。偏差應（yīng）核實（shí）後加載裝置，之前的測試時鍾開始。偏置還應當驗證測試後時鍾停止，但在設備移（yí）離會議廳。
注意我們建（jiàn）議限（xiàn）流電阻（s）， 在HAST高壓加（jiā）速老化試驗（yàn）箱放在試（shì）驗板，以防（fáng）止破壞或（huò）DUT的短期（qī）發（fā）展情況在測試過程中。
4.5讀出
電氣試（shì）驗（yàn）應執行後，沒有坡道盡頭式後（hòu）超過（guò）48小時。注：中（zhōng）間讀數，設（shè）備，應退還內（nèi）96小時的坡（pō）道盡頭的壓力（lì）了。水（shuǐ）分的損失後，從設備，從他們的去除率可減少（shǎo）放置在密封防潮袋中的設備（不幹燥劑）。當設備放置（zhì）在（zài）密封袋的“測試窗口鍾”運行（háng）在（zài）1 /暴露（lù）環境的實驗室設備率3。因此，測試窗口可以擴展到多達144小時，時間（jiān）回到應力封閉裝置中（zhōng）的（de）水分（fèn）防袋多（duō）達288小時。
4.6處理
適合手應包括用於處理設備，電路板及（jí）固定裝置。汙（wū）染控製是很重要的任何高度，加速水分的壓力測試。

5、失效準則

一個設備將（jiāng）被視為失敗（bài）的高（gāo）加速的溫度和濕度的測試參數限製，如果超過，或功能不能在名義和壞在（zài）適用的采購文件或數據表中指定條件的證明。

6、安全

按照設備製造商—— 瑞（ruì）凱儀器的建議和（hé）當地（dì）的安全規則。