如今，隨著科學的進步，電子製造技（jì）術也越（yuè）來越發達，其集成集成化（huà）程度是越來越高，工序越來越多，結構也越來越細微，製造工藝越（yuè）來越（yuè）複（fù）雜，錯綜複雜的因素勢必會導致在製造過程中潛伏缺陷，作為電（diàn）子產（chǎn）品競爭廠家，不斷要（yào）保（bǎo）證各性（xìng）能的高精準性，也（yě）要保證其質量的穩定性。所以對其做相關測試也是必要的，那麽為什麽要做老化測試呢？

    一般這種缺陷需要在元器（qì）件工作於額定功（gōng）率和正常工作溫度下（xià）運（yùn）行一（yī）千個小時左右才能全部被激活(暴露)。顯（xiǎn）然，對每隻元器件（jiàn）測試一千（qiān）個小時是不現實的，所以需要對其施加熱應力和偏壓，例如進行高溫功（gōng）率（lǜ）應力試驗，來加速這類缺陷的提（tí）早暴露。也就是給電子產（chǎn）品施加熱的、電（diàn）的、機械的或（huò）多種綜合的外部應力，模擬嚴酷工作環境，消除加工應力和殘餘溶劑等物質，使潛伏故障（zhàng）提前出現（xiàn），盡快使產品通過（guò）失效浴盆特性初期階（jiē）段，進入高可靠的穩定期。