電子器部件及產品老（lǎo）化試驗方法
作者：
salmon範
編輯：
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來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2021.03.18
1、範圍
本標準規（guī）定了電子器部件（jiàn）及產品（pǐn）老化試驗方法（fǎ）。
本標準適用於電子器（qì）部件及產品的老化（huà）試（shì）驗。
2、規範性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是（shì）注日期的引用文件，其（qí）隨後所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用於本標準（zhǔn），然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的新版（bǎn）本。凡是（shì）不注日期的（de）引用文件（jiàn），其新（xīn）版本適（shì）用於本標準（zhǔn）。
GB/T 2423. 1-2008 電工電子產品（pǐn）環境試驗第2部（bù）分:試驗方法 試驗A:低溫（IEC60068-2-1-2007，IDT）
GB/T 2423. 2 -2008電工 電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗（yàn）B:高溫（IEC 60068-2-2-2007，IDT）
GB/T2423. 4-2008電工 電子產品（pǐn）環境試驗第（dì）2部分:試驗方法 試（shì）驗Db:交變濕熱（12h + 12h循環）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）
GB/T2423.10 電工（gōng）電子產品環境（jìng）試（shì）驗第2部分（fèn）:試驗方（fāng）法 試驗Fc和導則:振動（正弦） （IEC 60068-2-6， IDT）
GB/T2423.11電工
電子產品環境試驗第2部分:試驗方法（fǎ） 試驗（yàn）Fd:寬頻帶隨機振動一（yī）般要求（IEC 68-2-34，IDT）
3 3試驗方法
3.1 將處於（yú）室溫的試品（各類電子（zǐ）器部件（jiàn）及產品），在不加包裝、不通電、“準備使用（yòng）”狀態下， 按其正常（cháng）位置放入已調到規定試驗溫度的高低溫老化（huà）試驗箱內。
3.2使高低溫老化試驗箱溫度（dù）調整到規定的試驗溫（wēn）度下，並使試品溫度達到穩定。
3.3試品應均勻擺放在高低溫老化試驗箱內，試驗持續（xù）時間應從溫度達（dá）到穩定時算起。
3.4 各類電（diàn）子器部件在組裝前應（yīng）做老化試驗。
3.5老化試驗結束後的試品應放在恢複的標準大氣條件 下保持1h以上。然後，按有關標準（zhǔn）規定進行外觀檢（jiǎn）查及有關電氣、機械性能的檢測。
3.6 各類器部件及產品的試驗項（xiàng）目按表1規定（dìng）進（jìn）行。
3.7除（chú）上述試驗項目外（wài），各公司（sī）可根據產品性能（néng）和有關標準增加老化試驗項目。
