電（diàn）子器部件及產品老化試驗方法
作者：
salmon範
編輯：
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來源：
www.tuyatang.com
發布日期： 2021.03.18
1、範圍（wéi）
本標準規定了電子器部（bù）件及產品老化試（shì）驗方法。
本標準適用於電子器部件及（jí）產品的老化試驗。
2、規範性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注（zhù）日期的引用文件，其隨後所（suǒ）有的修改單（不包括勘誤的內（nèi）容）或修訂版（bǎn）均不適用於本（běn）標準（zhǔn），然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方（fāng）研究是否可使用這些文件的新版本。凡（fán）是不注日期的引用（yòng）文件，其新版（bǎn）本適用於本標準。
GB/T 2423. 1-2008 電工電（diàn）子產（chǎn）品環境（jìng）試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫（IEC60068-2-1-2007，IDT）
GB/T 2423. 2 -2008電（diàn）工 電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫（IEC 60068-2-2-2007，IDT）
GB/T2423. 4-2008電工 電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱（12h + 12h循環）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）
GB/T2423.10 電工電（diàn）子產品環境試驗第2部分:試驗方（fāng）法 試驗Fc和導則:振動（正弦） （IEC 60068-2-6， IDT）
GB/T2423.11電工
電子產品環境（jìng）試驗第2部分:試驗（yàn）方法 試驗Fd:寬頻帶隨（suí）機振動一般要求（IEC 68-2-34，IDT）
3 3試驗方法（fǎ）
3.1 將處於室溫的試品（各類電（diàn）子器部（bù）件及產品），在不加包裝、不通電、“準備使用”狀態下， 按其正常位置放入已調到規定試驗溫度的高低溫老化試驗箱內。
3.2使高低（dī）溫老化試驗箱溫度調整到規定的試驗溫度下，並使試品溫度達到穩定。
3.3試品應均勻擺放在高低溫老化試驗箱內，試驗持續時間（jiān）應從溫度達到穩定（dìng）時（shí）算起。
3.4 各類電子（zǐ）器部件在組裝前應做老化試驗。
3.5老化試驗結束後的試品應放在（zài）恢複（fù）的標準大（dà）氣條件 下保（bǎo）持1h以上（shàng）。然後，按有關標準規定進行外觀檢（jiǎn）查及（jí）有關電氣、機械性能的檢測。
3.6 各類器部件及產品（pǐn）的試驗項目按表（biǎo）1規定進行。
3.7除上述試驗項目外，各公司可根據產品性能和有關標準（zhǔn）增加老化試驗項目。
