測試（shì）目的：驗證被測終端在高低溫環境下運行或存儲的環境適應能力
    測（cè）試儀器： 高低溫試驗箱、冷熱衝擊試驗箱
    技術參數：
    1) 高溫存儲：70±2℃ 試驗時間：48H（溫度穩定後開始計算）；
    2) 低溫存儲：-40±2℃ 試驗時間：48H（溫度穩定後開始計算（suàn））；
    3) 溫度衝擊存儲：溫度在-40±2℃/60±2℃之間（jiān）交替，10個循環；
    4) 高溫工作（zuò）：50±2℃ 試驗時間：24H（溫度穩定後開始計算）；
    5) 低溫工作：-20±2℃ 試驗（yàn）時（shí）間：24H（溫度穩定後（hòu）開始計算）；
    6) 高溫高濕工作：溫度40±3℃，濕（shī）度93±3%   試驗時間：24H（溫濕度（dù）穩定後開始計算）。

    預置條件：被測終（zhōng）端功能完（wán）好，外觀正常。

    測試步驟
    1) 在常溫下對（duì）被測終端進行外觀、功（gōng）能檢查；
    2) 將被測終（zhōng）端（duān）關機狀態放進高低溫試驗箱，高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到70±2℃溫度，溫度達到穩定後（hòu）持續存儲（chǔ）48小時；
    3) 將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢複2小時（shí）後，進（jìn）行外觀、裝配、功能（néng）檢查，要求外（wài）觀（guān）、裝配、功能（néng）與測試前無明顯差異；
    4) 在（zài）常溫下對被測終端進行外觀、功能檢（jiǎn）查；
    5) 將被（bèi）測終端關機狀態放進高低溫試驗箱，高低溫試驗箱（xiāng）內溫度以（yǐ）5℃/Min的速（sù）率從常溫下降到-40±2℃溫度，溫度達到穩定（dìng）後（hòu）持續存儲48小時；
    6) 將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢複2小時後，進行外觀、裝配、功能檢查，要求（qiú）外（wài）觀、裝配、功能（néng）與測試前無明顯差異；
    7) 在常溫下對被測終端（duān）進行外觀、功能檢查（chá）；
    8) 將樣機（jī）關機狀態放進冷熱衝擊（jī）試驗箱，樣機先在-40℃環境下（xià）存儲1小時，在5分鍾之內，溫度上升到60℃存儲1小時，此為一個循環。樣機共測試10個循環；
    9) 將（jiāng）被測（cè）終端從試驗箱取（qǔ）出在（zài）常溫中恢複2小時後，進行外觀、裝配、功能檢查，要（yào）求外觀、裝配、功能與測試前無（wú）明顯差異；
    10) 在常溫（wēn）下對被測終（zhōng）端進行外觀、功能檢查；
    11) 將待測樣機開機狀（zhuàng）態，插入用戶（hù）卡，T-flash卡放進高低溫試驗箱，其中一台樣機插上充電（diàn）器，另一（yī）台樣機使用電池供（gòng）電開機；
    12) 高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升（shēng）到設定的溫度，溫度達到穩定後持續24小時；
    13) 將樣機從試驗箱取出在（zài）常溫中恢複2小（xiǎo）時後，進（jìn）行外觀、裝配（pèi）、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異（yì），因電池沒電導致的無法（fǎ）開機不算故障，可充（chōng）電後再進（jìn）行檢查；
    14) 在常溫下對被測終端進（jìn）行外觀、功能檢（jiǎn）查；
    15) 將待測樣機開機狀態，插入用戶卡，T-flash卡（kǎ）放進高低溫試驗箱，其（qí）中一台樣機插（chā）上充電器，另一台樣機（jī）使用電池供電開機。
    16) 高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫（wēn）上升到設定的溫度，濕度設定為標準要求的濕度，溫濕（shī）度（dù）達到穩定（dìng）後持續24小時；
    17) 將樣機從試驗（yàn）箱取出在常溫中（zhōng）恢（huī）複2小時後，進（jìn）行外（wài）觀、裝配、功能檢查（chá），要求外觀、裝配、功能與測（cè）試前無明顯（xiǎn）差異，因電池（chí）沒電（diàn）導致（zhì）的無法（fǎ）開機不算（suàn）故障，可充電後再進行檢查。
    預期結果
    1) 步（bù）驟（zhòu）3後，被（bèi）測終端外觀無明顯變化，基本（běn）功能正常;
    2) 步驟6後，被測終端外觀無明顯（xiǎn）變化，基本功能正常;
    3) 步驟9後，被測終端外觀無明顯變化，基本功能（néng）正常;
    4) 步驟13後，被測（cè）終（zhōng）端外觀無明顯變化，基本功能正常;
    5) 步驟17後，被測終端外觀無明顯變化，基（jī）本功能正常.
    備注： 高（gāo）低溫試驗箱共4台，分為兩組，兩組並行測試，每組內的測試項串行測試：
    組：高溫（wēn）存儲（chǔ）、低溫存儲、溫度衝擊；
    第二組：高溫工作、低溫工作、高（gāo）溫高濕。