因為目前的測試方式都不足（zú）以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費冗（rǒng）長的時間。因此，有其他的團（tuán）隊開始研究加速壽（shòu）命測試（shì）方式和壽命推估模（mó）型，而Highlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)是目前有可（kě）能（néng）拿來做加速壽命推估的測試方（fāng）法。