帶（dài）視窗冷熱衝擊試驗箱

產品優勢  ·產品提籃自動轉換  ·帶視窗，可觀察測試區提籃（lán）上升下降移動並安裝照明燈  ·自動程序控（kòng）製除霜循環數  ·兼容（róng）網口和Web訪問，程序創建指引  ·自動或手動控（kòng）製模式  ·自動或（huò）手動備份/恢複  ·通過USB接口導出數據、詳細測（cè）試曲線圖、產品溫度控製 ·係（xì）統控製、報警和狀態顯示

防爆冷熱衝擊試驗箱

防爆冷熱衝擊試驗箱主要測試電池產品（如：鋰電池、電芯、動力電池、紐扣電池、鉛酸電池、堿性電池、鎳（niè）氫電池、儲能、燃料電池、太陽能電池、移動電源、充電寶、UPS電源、正極材料、負極材料等）在瞬間下經高（gāo）溫、低溫的連續環境下所能忍受的程度，適合各種電池材料在溫度急劇變化環境下的適應（yīng）性。

超快速冷熱衝擊試驗機（jī）

超快速冷（lěng）熱衝擊（jī）試驗（yàn）機亦稱（chēng）“熱流儀、高低溫衝擊係統熱流儀”等型號：RK-TS-FF溫度範圍：-60℃～＋150℃溫度變化（huà）速度（空載）：-50℃～+125℃/+125℃～-50℃，約15～20秒，穩定約10秒統計氣流輸出：5～17SCFM(141-481L/Min)可調可分離（lí）的彩色觸摸屏控製器可遠程實現監控、測試；超快速升降溫，125℃至-50℃在10秒到20秒完成轉換(模塊樣品溫度（dù）)；

水平式冷熱衝擊（jī）試驗箱

型號：RK-TS2-612            生產方式：非標定製品牌：RIUKAI                產地：廣東·東（dōng）莞內箱容積：612L（可定製）      高溫（wēn）衝擊範（fàn）圍：+60℃～+150℃（可（kě）定製（zhì）+200℃） 低溫衝擊範圍：X：0℃～-65℃、F：0℃～-55℃、L0℃～-40℃（可選）本試驗箱采用水平（píng）吊籃移動設計，在研製階段可用於發現產（chǎn）品設計和工藝（yì）缺陷，在有些情（qíng）況下也可用於環境應力篩選，剔除產品的早期故障（zhàng）。試驗（yàn）的嚴苛程度取決於高低溫範圍（wéi），駐留時間，溫度轉換時（shí）間，循環數。

三槽（cáo）式冷熱衝擊試（shì）驗箱

品牌：RIUKAI/草莓视频网站    產地：廣東·東莞高溫衝擊範（fàn）圍：60℃～+150℃（非標（biāo）可定製到180℃、200℃）低溫衝擊範圍：L:-10℃～-40℃、F:-10℃～-55℃、X:-10℃～-65℃溫度波動度：≤±0.5℃ 溫度偏差：≤±2℃溫度回複時間：≤5min風門切換時間：高溫槽 ←→低溫（wēn）槽3秒以內

換氣式冷熱衝擊試驗箱

品牌：RIUKAI/草莓视频网站儀器高（gāo）溫衝擊範圍：60℃～+150℃（非（fēi）標可定製到180℃、200℃）低溫衝擊（jī）範圍（wéi）：L:-10℃～-40℃、F:-10℃～-55℃、X:-10℃～-65℃預熱溫（wēn）度上（shàng）限：標準180℃（非標可定製到200℃、250℃）         溫度上（shàng）升時間：R.T.→+200℃≤40min預熱溫度（dù）下限：A:-10℃～55℃、B:-10℃～-65℃、C:-10℃～-80℃   溫度下降時（shí）間：R.T.→-80℃≤90min；

三箱式（shì）冷熱衝擊試驗箱

品牌：RIUKAI/草莓视频网站儀器高溫衝擊範圍：60℃～+150℃（非標可定（dìng）製（zhì）到180℃、200℃）      溫度上升時間：R.T.→+200℃≤40min低溫衝擊（jī）範圍（wéi）：L:-10℃～-40℃、F:-10℃～-55℃、X:-10℃～-65℃    溫（wēn）度（dù）下降時間：R.T.→-80℃≤90min；溫度（dù）波動度：≤±0.5℃                溫（wēn）度偏差：≤±2℃溫度回複時間：≤5min                風（fēng）門切（qiē）換（huàn）時間：高溫（wēn）槽 ←→低（dī）溫槽（cáo）3秒以內

兩箱式冷熱衝擊試驗箱

內箱容積（可選（xuǎn））：50L/100L/150L/200L/300L衝擊溫度（dù）：高溫+60℃～+150℃（非標可定製（zhì）180℃、200℃）；低溫-10℃～-40℃、-10℃～-55℃、-10℃～-65℃衝擊恢複時間：≤5min試驗方式：氣動切換，吊籃（lán）移動式適用範圍：適用於金屬、塑料、橡膠、電子等材料。

冷熱衝擊試驗箱

高溫槽溫度範圍：+60℃～+200℃（非標（biāo）可定製180℃、200℃）低溫（wēn）槽溫度範圍：A(-55℃～-10℃);B(-65℃～-10℃);C(-80℃～-10℃)升溫時間：+60℃～+200℃≤35min降（jiàng）溫時間：A(+20℃～-55℃)≤70min;B(+20℃～-65℃)≤80min;C(+20℃～-80℃)≤90min試驗方式：氣動切換，吊籃移動式衝擊恢複時間：≤5min吊籃移動時間：10S以內

半導體芯片領域對冷熱衝擊試驗箱（xiāng）需要具備哪些測試要求？

在半導體芯片的可靠性驗證中，冷熱衝擊試驗箱試驗（TemeratureCyclig）是篩查封裝分層、焊點開裂及電（diàn）氣漏電等潛在（zài）缺陷的核心手段。針對半導體芯（xīn）片的嚴苛（kē）測試要求，主要涵蓋以下四個（gè）核心（xīn）維度：一、嚴苛的溫度參數與極速轉換要求半導體測試對溫變參數有著極（jí）高的標準化要求。在溫（wēn）度範圍上，消費級芯片通常設定在（zài）-40℃至+......