針對第三代半（bàn）導體材料（以碳化矽SiC、氮化镓GaN為核心）的測試，其寬禁帶材料物理特性決定了其工作溫（wēn）度遠超傳統矽基器件。因（yīn）此，冷熱衝擊試驗箱在（zài）超高（gāo）溫耐受性（xìng）及隔熱材料方麵麵臨著全新的行業標準與技術要求，具體體現在以下四個核心維度：一、超高溫耐受性的極限拓（tuò）展傳統矽器件的冷（lěng）熱（rè）衝擊測試通常在-55℃至（zhì）125℃範圍......

端子線檢測（cè）一般涉及以下幾個項（xiàng）目：插拔力測試、耐久性測試、絕緣電阻測試、振動測試、機械（xiè）衝（chōng）擊測試、冷熱衝擊測試、混（hún）合氣體腐蝕（shí）測試等。