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提高(gāo)多端(duān)口微波器件測試效率之(zhī)高低溫(wēn)試驗

作者: salmon範 編輯: 草莓视频网站儀器 來源: www.tuyatang.com 發布日期: 2019.07.27
    在采用網絡分析儀測試多端(duān)口微波器件時,測試過程中需要更換測試電纜和(hé)DUT不同端(duān)口之間的連接。如用兩端口矢量網絡分(fèn)析儀測量雙工(gōng)器,除了次連接以外,在測試過程中還(hái)需要變換兩次(cì)連接,測試者(zhě)要另外做出四次連接動作(兩(liǎng)次(cì)接電纜,兩次接測試負載),然後再對儀器進行手動操作測試。在大批量生(shēng)產(chǎn)情況下,這種傳統測試方法的測試效率較低,測(cè)試成本較高(gāo);尤其是高低溫試驗時,傳統的測試方法(fǎ)無法(fǎ)滿足需求。
    本文討論了一(yī)種自動化測試方法的實踐——通過開關矩陣和自(zì)動化測試軟件來快速地完成雙工器的大批量高低溫試驗。
問題的來源
    本文所討論的問題來自數百隻雙工器的 高低溫試驗,要(yào)求被測雙工器在(zài)-30°C和+60°C的高(gāo)低溫試驗箱裏各放置60分鍾,用矢量網絡分析儀測(cè)試其S參數,出廠要求100%全檢。
    圖1為雙(shuāng)工(gōng)器(qì)的電原理圖,其中TX/RX/ANT分別為發射/接收/天線端。雙工器的測試指標包括ANT至TX之間、ANT至RX的插入損耗,TX和(hé)RX之間的隔離,以及(jí)三個端口的駐波。
    首先我們采用了傳統方法進行高低溫試驗,表(biǎo)1顯示了測試流程和花費時(shí)間。

    表1. 傳統的高(gāo)低溫試驗方法及耗時

表1. 傳統的高(gāo)低溫試驗方法及耗時

    按(àn)照傳統的工藝流程,每隻雙工器的高低溫試驗需要耗時約3小時40分鍾,無論如何,這樣一天(tiān)隻能完成(chéng)3隻雙工器的(de)高低溫試驗(yàn),如果是100隻,需要花費33個工作日,這顯然(rán)是不可接受的。

    多端口微波器件的高效率測(cè)試解決方案

    常溫測(cè)試方法介紹

    我們采用2×N的全開關矩陣(zhèn)來擴展矢量網絡分析儀的測試端口,以適應多端口微波器(qì)件的(de)測試。
    圖2顯示了采(cǎi)用2×6開(kāi)關(guān)矩陣進行雙工器測試的係統連接圖(tú),其中(zhōng)網(wǎng)絡分析儀(yí)通過開關矩陣後變(biàn)成了“6端口(kǒu)”。采用開關矩陣後,測試參考麵延(yán)伸至六條測試電纜的端(duān)口,開機後,首先對(duì)整個係統進行校準,自動化測試軟件可以記(jì)錄並保存每個通路的校準值,並在測試過(guò)程中(zhōng)調用;連接好被測件後(hòu),根據產品標準(zhǔn)的要求設置好(hǎo)測試(shì)條件,然後點擊“開始”鍵,軟件會自動完成整個測試過程(chéng)並生成測試報告。
    通過自動化測試軟件的指令,可以自動切換不同的測試(shì)通路,依次完成雙工器1和雙工器2的各項指標的測試,而不需要手動更換(huàn)電纜和測試端口。

    圖(tú)2. 采用開關矩陣進行雙工器的自動化測試

圖2. 采(cǎi)用開關矩陣進行雙工器的自動化測(cè)試

    采用圖2的自動化測(cè)試係統,完(wán)成校準、測(cè)試條件設(shè)置後,測試一隻雙工器隻要花費幾秒鍾時間,常溫條件下,一天可以完成200-300隻雙(shuāng)工(gōng)器的測試,相(xiàng)比兩端口網絡分析儀直接測量法(fǎ),測試效率(lǜ)至少提高了五倍。同時測試精(jīng)度也是與采用矢量網絡分(fèn)析儀是一致的(de)。

    表2. 自動化測試係統的高低溫(wēn)試驗方(fāng)法及耗時

表2. 自動化測(cè)試係統(tǒng)的高低溫(wēn)試驗(yàn)方法及耗時

    按照自動化測試的工藝流程,八隻雙工器的高低溫試驗需要(yào)耗時約(yuē)2小時51分鍾,這樣一天至少可以完成24隻雙工器的(de)高低溫試驗,如果是100隻,隻需要花費4.2個工作日,這比(bǐ)傳統的工藝流程測試效率提高了(le)8倍。
    按照上述(shù)實驗方法,我(wǒ)們總共完成了500隻雙工器的高低溫及常溫的測試(shì),花了不到20天時間。根據高低溫試驗箱的容量以及(jí)開關矩陣的通(tōng)路數,測試效率還可以進一步提高。

    實測結果

    常溫(wēn)測試結果

    圖5顯示了采用圖2的方法對一個雙工器的常溫測(cè)試結果。

圖4a.ANT-TX通(tōng)路(lù)損(sǔn)耗

圖5a.ANT-TX通路(lù)損(sǔn)耗

圖4b.ANT-RX通路損耗

圖5b.ANT-RX通(tōng)路損耗

圖4. 雙工器的常溫測試結果
圖5. 雙工(gōng)器的(de)常溫測試結果
    低溫測試結果
    圖6顯示了采用圖3的方法對一個雙工器的(de)低溫測試結果。


圖6a.ANT-TX通(tōng)路損耗

圖5b.ANT-RX通路損耗

圖6b.ANT-RX通路損耗

圖5. 雙工器的低溫測試結果

圖6c. 駐波
圖6. 雙工器的低溫測(cè)試結果
    高溫(wēn)測試結果

    圖(tú)7顯示了采用圖3的方法對一個雙(shuāng)工器的高溫測試結果。

圖7a.ANT-TX通路損耗

圖7a.ANT-TX通路損耗

圖7b.ANT-RX通路損耗(hào)

圖7b.ANT-RX通路損(sǔn)耗

圖7. 雙工器的(de)高溫測試結果

圖7c. 駐波(bō)
圖7. 雙工(gōng)器的高溫測試結果
    作為自動化測試軟件的另一個優點,所有測試數據都可以被保存和溯(sù)源,這為各類微波器件(jiàn)在(zài)通信係統中的應用提供了可靠的技術保障。

    結論

    本文討論了一個非常具有實用意(yì)義的測試方法(fǎ),通過(guò)實際應用,我們可以(yǐ)得出以下結論:
    1.采用開關矩陣可以大大提高矢量網絡分析儀的測試效率(lǜ)。
    2.本(běn)文(wén)所描述的測試方法適用於生產線的大批量測試,將(jiāng)會大大提高(gāo)測試效率、降低測試成本。
    3.本文所描述的測試方法十分適用於各類多端口微波器件的(de)高低溫試驗。
    4.采用開關矩陣的測試精度和直接測量(liàng)法是一致的。
    5.采用自動化測試軟(ruǎn)件,可以(yǐ)對(duì)被測件的數據進行(háng)保存(cún),方便(biàn)溯源。
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