半導（dǎo）體芯片在PCB組裝過程中（zhōng）的應力傳導和器件自身熱量的積（jī）累，都會（huì）給產品的使用帶來影響。所以，在產品的審驗（yàn）階段盡可能模擬半導體芯片（piàn）在（zài）很低環境下（如：高溫高濕測試、高低溫運行測試、高低溫貯（zhù）存測試、老化（huà）壽命測試等）的（de）應用狀況（kuàng），來檢測其可靠性，對於實驗中所反映出（chū）的問題，有（yǒu）針對性地改進產（chǎn）品製程，或原材料參數設計以達到預期效果。
目前，對於半導體芯片的可靠性測試，大多數采用（yòng）高低（dī）溫交變濕（shī）熱試驗箱 做雙85測試，但其試驗周期長等缺點嚴重（chóng）耽（dān）誤產品出新的步伐。如何更高地在研發階（jiē）段提高產品（pǐn）的可靠性，避免殘次品流入半（bàn）導體芯（xīn）片成品（pǐn）市場，這成為一個迫切需要解決（jué）的問題。
草莓视频网站半導體芯片HAST高壓加（jiā）速老化（huà）試驗箱
草莓视频网站儀器多年聚焦可靠性（xìng）測試設備領域，專注溫濕度試驗創新技術解決方案，技術成熟（shú），經驗豐富，針對這一行業痛點（diǎn），和多家半（bàn）導體公司已開展合作，開發全新的模擬環境可靠性測試解決方案，頂替進口測試設備（bèi），填補行業空白。
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