高溫試驗概述
    高溫環境條件可（kě）能改變構（gòu）成設備材料的物理性能和電氣性能（néng），能夠引起設備發（fā）生多種故障。例如不同材料膨脹（zhàng）係數不一致使得部件相互（hù）咬死、材（cái）料（liào）尺寸全（quán）部或局部改變、有機（jī）材料褪色、裂解或龜裂紋等。
    因此，高溫試驗的目的（de）是評價設備或元器件在高（gāo）溫工作、運輸或存儲條件下，高溫對樣品外觀、功能及性能等的影響。高溫試驗對元器件及設備可（kě）靠性（xìng）的影響很大。在進行高（gāo）溫試驗時，應按照不同試（shì）驗目的遵循不同的原則。一是節省（shěng）壽命原則，目的是施加的環境應力對試件的損傷從小到大，使試件能經曆更多的試（shì）驗項目；二是施加的環（huán）境應力能限度地顯示疊加效應原則，按照這個原則應在振（zhèn）動和衝擊等力學環境試驗之後（hòu）進行高溫試驗。在具體操（cāo）作時，應根（gēn）據試件的特性、具體工作順序、預（yù）期使用場合、現有條件（jiàn）以及各個試（shì）驗（yàn）環境的預期（qī）綜合效應等因素確定（dìng）試驗順序。確定（dìng）壽命期間環境影響的順序時，需要考慮元器件在使用中重複出現的環境影響。
    在 GJB 360B—2009《電子及電氣元件試驗方法》中涉及（jí）高溫試驗的有“高溫壽命試驗”，其試驗目的是用於確定試驗樣（yàng）品（pǐn）在高溫條（tiáo）件下工作一段時（shí）間後，高溫對試驗樣（yàng）品的電氣和機械性能的影響，從而對試驗樣品的質量做出評定。在（zài） GJB 128A—1997《半（bàn）導體分（fèn）立器件試驗方法（fǎ）》中涉及高溫試驗的有“高溫（wēn）壽命（非工作）”和“高溫壽命（mìng）（非工作）（抽樣方案）”兩種試驗（yàn），前者的（de）試驗的目的是用於（yú）確定器件在（zài）承受規定的高溫條件下是否符合規定的失效率，後者的試驗目的是用於確定器件在承受規（guī）定的條件（jiàn）下是否符合規定（dìng）的（de）抽樣（yàng）方案。電子元器件在高溫環境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使（shǐ）器件（jiàn）的電參數發生（shēng）明顯變化或絕緣性能下降。例如，在高溫條件下（xià），存在於（yú）半（bàn）導體器件芯片表麵及管殼（ké）內（nèi）的雜質加速反應，促使沾汙嚴重的產品加速退化。此外，高溫條件對芯片的體內缺陷、矽氧化層和鋁（lǚ）膜中的（de）缺陷（xiàn）以及不良的裝片、鍵合工藝等（děng）也（yě）有一定的檢驗效果。GJB 150《軍用設（shè）備環境試驗條件》是設備環境試驗標準，它規定了統一（yī）的環境試驗條件或等級，用以評價（jià）設備適應自然環境和誘發環境的能力，適用（yòng）於設備研製、生產和交付各階段，是製定（dìng）有關設備標（biāo）準（zhǔn）和技術文件的基礎和選用依據。
    高溫試驗方法與技術

    1、試驗條件對於溫（wēn）度條件，GJB 360B—2009的“高溫壽命試驗”條件從表1中選取。

    表1 高溫壽命試驗溫度條件GJB 128A—1997的高（gāo）溫試驗則一般（bān）選取規範中規定的溫度。對於試驗時間，GJB 360B—2009的“高溫壽命試驗”條件從表2中選取。

    表2 高溫（wēn）壽命（mìng）試驗時間GJB 128A—1997 的“高溫壽命（非工作）”試驗時間按照有關規範的規定，“高溫壽（shòu）命（非工作）（抽樣方案）”試驗則一般選取340h。在試（shì）驗（yàn）期間，GJB 360B—2009的“高（gāo）溫壽命試驗”規定施加在試驗（yàn）樣（yàng）品上的試驗電壓、工作循環、負荷及其他工作條件（jiàn）由有關標準確定。

    2、試驗（yàn）設備
    試驗設備主要有 高低溫試驗箱（高低（dī）溫試驗室）和溫度（dù）計。高低溫試驗箱或高低溫（wēn）試驗室提供一定的高（gāo）溫場所（環境），溫度計用於測量和監控試驗溫度，還要（yào）有測量電性能參數的測量係統。
    3、試驗程序
    （1）試驗樣品的安裝。試驗樣品應按其正常（cháng）方式進行（háng）安裝。當幾組試驗（yàn）樣品同時受試時，試（shì）驗樣品之間安裝距離（lí）應按單組的要求做出規（guī）定，當沒有（yǒu）規定距（jù）離時，安（ān）裝的距離應（yīng）使試驗樣品彼此之間溫度影響減至小，當不同（tóng）材料製成的試驗樣品互相之間可能會產生不良影響並會改變試（shì）驗結果時，則不（bú）能（néng）同時（shí）進行試驗。
    （2）初始檢測。初始檢驗應（yīng）按有關規範的規定，對試驗樣品進行外觀檢查以及電性能及機械性能檢測。
    （3）試驗。確定試驗時（shí）間後（hòu），將高低溫試驗箱（室（shì））溫度升至規（guī）定的溫度，如果是工作試驗（yàn），還需要在試驗樣品上施加規定的電（diàn）壓、工作循環（huán）、負荷及其他工作條件。
    （4）中間（jiān）檢測（cè）。中間檢測是試驗期間應按有關（guān）規範的規定，對試驗樣品進行性能（néng）檢測。
    （5）後檢測。後檢測是試驗結束後，按有（yǒu）關規範的規定，對（duì）試驗樣品（pǐn）進行外觀檢查，電性能及機械性（xìng）能檢測。
    4、有關技術與設備要求
    （1）有關技術。對（duì）於（yú）試驗期間溫度的測量，應在距離被試任一（yī）樣品或同類樣（yàng）品組的規定的自由間隔內進行。此外，溫度測量也應在（zài）由樣品所產生的熱對溫度記錄影響小的位置上進行。對於合格（gé）判據，應由具體的規範來（lái）規定。有關的具體（tǐ）規範在采（cǎi）用本試驗（yàn）方法時，在適當的前（qián）提下應規定下列細（xì）則：① 距試驗（yàn）樣品（pǐn）的溫度測（cè）量位置（以厘米計算）；② 如果適用，靜止空氣的要（yào）求；③ 如果需要，安裝方法及試驗樣品間的距離；④ 試驗溫度及溫度容差；⑤ 試驗時間；⑥ 工作條件；⑦ 檢測項目；⑧ 失效判據。
    （2）試驗設備的要求。進行（háng）本（běn）試（shì）驗的設備應滿足以下要（yào）求：
    ① 高低溫試驗箱（室）應（yīng）在試驗工（gōng）作空間滿足本試驗規定的試驗條件，可以采用強迫空氣循環來保持試驗條件的均勻性，但不（bú）能強製氣流直接（jiē）衝擊試驗樣品；
    ② 應減少輻射問題，高低溫試驗箱（室）各部分的壁（bì）溫與規定（dìng）的試驗環境溫度之差不應大於3%（按熱力學溫度（dù）計），高低溫試驗箱（室）的結構應使輻射熱（rè）對試驗樣（yàng）品的影響降至小程度；
    ③ 對於濕度，每（měi）立方米空氣中不應超過 20g 水蒸氣（相當於 35℃時 50%的（de）相對濕度）。
    ④ 幹燥箱不適於做高溫試驗。不少單位進行例行高溫試驗時使用幹燥箱做電子元器件等電子產品的高溫試驗，這（zhè）是不合適的，試驗（yàn）後（hòu）得（dé）到（dào）的數據不可靠（kào），甚至燒（shāo）壞（huài）樣品，導（dǎo）致錯誤的結論。高（gāo）溫箱必須提供符合高溫的（de）試驗條件，真實地再現高溫（wēn）環境，高溫試驗時對（duì）設備的溫度偏差一般要求為±2℃，如果試驗（yàn）尺寸（cùn）較大，溫度偏差和溫（wēn）度波動度可以適當放寬。而幹燥（zào）箱采用的（de）是壁（bì）溫加熱的方法（fǎ），試驗箱的牆壁（bì）溫度會大於規定（dìng）的試驗環境溫度 3%的誤差，且箱內無循環加熱通（tōng）風，工作空間與箱壁的溫度偏差太大，箱（xiāng）內溫度不均勻（yún）。幹燥箱與高溫箱有本（běn）質區別，不能使（shǐ）用幹燥箱進（jìn）行高溫試驗。