高溫試驗概述
    高溫環境（jìng）條件可能改變構（gòu）成設備材料的（de）物理性能和電氣性能，能夠引起設備發生多（duō）種故（gù）障。例如不同材料膨脹係（xì）數不一致（zhì）使得（dé）部件相互咬死、材料尺寸全部或局部改變、有機材料褪色（sè）、裂解或龜裂（liè）紋（wén）等。
    因此（cǐ），高溫試（shì）驗（yàn）的目的是評價設備或元器件在高溫工（gōng）作、運輸或存儲條件下，高溫對樣品（pǐn）外觀、功能及性能等的影響。高溫試驗對元器件及設備（bèi）可靠性的影響很大。在進行高溫（wēn）試驗時，應按照不同（tóng）試驗目的遵循不同的（de）原則。一是節省壽命原則，目的是施加的環境應力對試（shì）件的損傷從小到大，使試件能經曆（lì）更多的試驗項目；二是施加的（de）環境應力能限度地顯示疊加效應原則，按照這個原則應在振動和衝擊（jī）等力學環境試驗之後進（jìn）行（háng）高溫試驗。在具體操作時，應根據試件的特性、具體工作順序、預期使用場合、現有條件（jiàn）以及各個試驗環境的預期綜合效應等因素確定試驗（yàn）順序。確定壽命期間（jiān）環境影響的順序時，需要考慮元器件在使（shǐ）用中重複出現的環境影響。
    在 GJB 360B—2009《電子及電氣元件試驗方法》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命試驗”，其試驗目的是（shì）用（yòng）於確定試驗樣品在高溫條件下工作一段時間後（hòu），高溫對試驗樣品（pǐn）的電氣和機械性能的影響，從而對試驗樣品的（de）質量做出評定。在（zài） GJB 128A—1997《半導體分立器件試驗方法（fǎ）》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命（非（fēi）工作）”和“高溫壽（shòu）命（非工作）（抽樣方案）”兩種試驗，前者的試驗的目的是用於確定器件在（zài）承受規定的高溫條件下是否符合規（guī）定的失效（xiào）率，後者（zhě）的試驗目的是用於確定器件在承受規（guī）定的條件下是否符（fú）合規定的抽樣方案。電子元器件在（zài）高溫環（huán）境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使器件的電參數發（fā）生明顯變化或絕緣性能下降。例（lì）如，在高（gāo）溫條件下，存在於半導體器件芯（xīn）片表麵及管殼內的雜質加速反應，促（cù）使（shǐ）沾汙嚴重的產品加速（sù）退化。此外，高溫條件對芯片的體內缺陷（xiàn）、矽氧化層（céng）和鋁膜中的缺陷以及不良的裝片、鍵合工（gōng）藝等也有一定的檢驗（yàn）效果。GJB 150《軍用設備環境試驗條件》是設備環境試驗標準，它規定了統一（yī）的環境試驗條件或等級，用以評價設備適應自然環境和誘發環境的能力（lì），適用於設備研製、生產和交付各（gè）階段，是製定（dìng）有關設備標準和技術文件的基（jī）礎和選用依據。
    高溫試驗方法與技術

    1、試驗（yàn）條件對於溫（wēn）度條件（jiàn），GJB 360B—2009的（de）“高溫壽命試驗”條件從表1中選取。

    表1 高溫壽（shòu）命試驗溫度條件GJB 128A—1997的高溫（wēn）試驗則一般選取規範中規定（dìng）的溫度。對於試驗時間，GJB 360B—2009的“高溫壽命試驗”條件從（cóng）表2中選取。

    表2 高溫壽命試驗時間GJB 128A—1997 的（de）“高溫壽命（非工（gōng）作）”試驗（yàn）時間按照有關規範（fàn）的規定，“高溫壽命（非工作）（抽樣方案（àn））”試驗則一般選取340h。在試驗期間，GJB 360B—2009的“高溫壽（shòu）命試驗”規定施（shī）加（jiā）在（zài）試驗樣品上的（de）試驗電壓、工作循環（huán）、負荷及其他工作（zuò）條件由有關標準確定。

    2、試驗（yàn）設備
    試驗設備主要有（yǒu） 高（gāo）低溫試驗箱（高低溫試驗（yàn）室）和溫度計。高低溫試驗（yàn）箱或高低溫試驗室提供一定的高溫場所（環境），溫度計（jì）用於測量和監（jiān）控試驗溫度，還要有測量電性能參數的測量係統。
    3、試驗程序（xù）
    （1）試驗樣品的安裝。試驗樣品應按其（qí）正常方式進行安裝。當幾組試（shì）驗樣品同時受試時（shí），試驗樣品之間安裝距離應按單組的要求做出規定，當沒有規定距離時（shí），安裝的（de）距離應使試驗樣品彼此之間溫度影響減至小，當不同材料（liào）製成的試驗（yàn）樣品互（hù）相之間可能（néng）會產生不良影響並會改變試驗（yàn）結果時，則不能同時進行試驗。
    （2）初始檢測。初（chū）始檢驗應按有關規範的規定（dìng），對試（shì）驗樣品進行外觀檢查以及電性能及（jí）機械性能（néng）檢測。
    （3）試驗（yàn）。確（què）定試驗（yàn）時間（jiān）後，將高低溫試（shì）驗箱（xiāng）（室（shì））溫度升至規（guī）定的溫度，如果是工作試驗，還需要在（zài）試驗樣品（pǐn）上施加規定的電（diàn）壓、工作循（xún）環、負荷（hé）及其他工作條件（jiàn）。
    （4）中間檢測。中間檢測（cè）是試驗期間應按有關規範的規（guī）定，對試驗樣品進行性能檢測。
    （5）後檢測。後檢（jiǎn）測是試驗結束（shù）後，按有關（guān）規範的規定，對試驗樣品進行（háng）外觀檢（jiǎn）查，電性能及機械性能檢測。
    4、有關技術與設備要求
    （1）有關技術。對於試驗期間（jiān）溫度的測量，應在距離被試任一樣品或同類樣品組的規（guī）定的自（zì）由間（jiān）隔內進行。此外，溫度測量也應在由樣品所產生的熱對溫度記錄影響小的位置上進行。對於合格（gé）判據，應由具體的（de）規（guī）範來規定。有關的（de）具體規範在采用本試驗方法時，在（zài）適當的前提下應規定下列細則：① 距試驗樣品的溫度（dù）測量（liàng）位置（以厘米計算）；② 如果適用，靜止空氣的要求；③ 如果需要，安裝方法及（jí）試驗樣品間的距離（lí）；④ 試驗溫度及溫度容差；⑤ 試驗時間；⑥ 工作條件；⑦ 檢測項目；⑧ 失效判據。
    （2）試驗設備的要求。進行本試驗的設備應滿足以下（xià）要求：
    ① 高低溫試驗箱（室）應在試驗工作空間滿足本試驗規定的試驗條件，可以采用強（qiáng）迫（pò）空氣循環來保持試（shì）驗條（tiáo）件的均（jun1）勻性，但不能強製氣流直（zhí）接衝擊（jī）試驗樣品；
    ② 應減少輻射問題（tí），高低溫試驗箱（室）各部分的（de）壁溫與規定的試驗環境（jìng）溫（wēn）度之差不應大於3%（按熱（rè）力學溫度計），高低溫（wēn）試驗箱（室）的結構應使輻射熱對試驗樣品（pǐn）的影響降至小程（chéng）度；
    ③ 對於濕度，每立方（fāng）米空氣中不應超過 20g 水蒸氣（相當（dāng）於 35℃時 50%的相對濕度）。
    ④ 幹燥箱不適於做高溫（wēn）試驗。不少單位進（jìn）行例行高溫試驗時使用幹燥箱做電子元器件等電（diàn）子產品（pǐn）的高溫試驗，這是不合適的，試驗後得到的數據不可靠，甚至燒壞樣品，導致錯誤的結論。高（gāo）溫箱必須提供符（fú）合高（gāo）溫的試驗條件，真實地再現高溫環境，高溫試驗時對設備的溫度偏差一般要求為±2℃，如果試驗尺寸較（jiào）大，溫度偏差和（hé）溫度波動度可以適當（dāng）放寬（kuān）。而幹（gàn）燥箱采用的是壁溫加（jiā）熱的方法，試驗箱的牆壁溫度會大（dà）於規定的試（shì）驗環境溫度 3%的誤差，且箱內無循環加熱（rè）通風，工作空間與箱壁的溫度偏差太大，箱內溫度不均勻。幹（gàn）燥箱與高溫箱有本質區別（bié），不能使用幹燥箱（xiāng）進行高溫試驗。