1、試驗目的低溫（wēn）試驗用於考（kǎo）核產品在低溫環境條件下存儲和使用的適應性（xìng），常用於產品在開發階段的型式試驗和元器件的篩選試（shì）驗。
    2、試驗條件按照國標GB 2423.1—2008規定如下：
    （1）非散熱試驗樣品（pǐn）低溫試驗Ab：溫度漸變。
    （2）散熱試驗樣品低溫試驗（yàn）Ad：溫度漸變。試（shì）驗的嚴酷程度（dù）由（yóu）溫度和持續時間確定。溫（wēn）度：-65℃；-55℃；-40℃；-25℃；-10℃；-5℃；+5℃。試驗溫（wēn）度的允許偏差均為±3℃。持續時間：2h；16h；72h；96h。
    3、試驗程序
    試（shì）驗Ab：非散熱試驗樣品（pǐn）溫度漸變的低溫試驗，用以確（què）定非散熱的電子電工產品（包括元（yuán）件（jiàn）、設備或其他產品）低溫下存儲和使用的適應（yīng）性。將處於室溫的試驗樣品（pǐn），按正常位置放入 高低溫試驗箱內，開動冷源，使（shǐ）試（shì）驗箱溫度從室溫降低到規定試驗溫度並使試驗樣品達到溫度穩定。箱內溫度（dù）變化速率為不大於 1℃/min（不超過5min時間的平均值）。
    試（shì）驗（yàn）Ad：散（sàn）熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，確定散熱電（diàn）子電工產品（包括元器件、設備或其他產品）低（dī）溫條件下使用的適應（yīng）性（xìng）。
    4、有關技術和設備要（yào）求
    （1）有關技術。若試驗（yàn）的目的僅僅（jǐn）是檢查試（shì）驗樣品在低溫時能否正常工作，則試驗的時間隻限於使試驗樣品溫度達到穩定即可；若（ruò）作為與低溫耐久性或（huò）可靠性相聯係的有關試驗時，則（zé）其試（shì）驗所需的持續時間按有關標（biāo）準規定。試驗時要（yào）注意區分兩類試驗樣品：無人工冷卻的試驗樣品和有人工冷卻的試驗樣品。無人工冷（lěng）卻的試驗樣品分為無強迫空氣循環（huán）的試驗和有強迫空氣（qì）循（xún）環的試驗，無強迫空氣循（xún）環的試（shì）驗，是模擬自由空氣條件影響的一種試驗方法。有強迫空（kōng）氣循環的試驗，有兩種方法。方（fāng）法 A 適用於高低溫試驗箱足夠（gòu）大，不用強迫空氣循環也可滿足試驗要求，但僅能借助空氣循環才能保持箱內的環境溫度。方法B用於方法A不能應用（yòng）的（de）場（chǎng）合，例如，用作試驗的試驗箱體積太小，當無強迫（pò）空氣循環就不能符合試驗要求的場合。有人工冷卻的（de）試驗樣品（pǐn），一般可按無（wú）強迫空氣循環（huán）方法進行試驗。這三項低溫試驗對於試驗樣品的工作（zuò）性（xìng）能（néng）試（shì）驗，必須按有關（guān）標準規定對試驗樣品（pǐn）給（gěi）予（yǔ）通（tōng）電或（huò）電氣負載，並檢查確定能否達到規定的功能。按（àn）要（yào）求施（shī）加規定的試驗條件前（qián），應對樣（yàng）品進行（háng）外（wài）觀（guān）及電（diàn）氣和機（jī）械性能的初始檢測，然後按有關標準的規定在試驗期間或（huò）結（jié）束時加負載和進行（háng）中間檢測，檢測時試驗樣品不應從高（gāo）低溫試（shì）驗箱中取出。按照規定要求進行恢（huī）複，後對樣（yàng）品進行外觀及電氣和（hé）機械性能的檢測。
    （2）試驗設備要求。高低（dī）溫（wēn）試驗箱應能夠（gòu）在試驗工作空間內保持（chí）規定（dìng）的溫度條件（jiàn），可以采用強迫空氣（qì）循環來保持溫度均勻。為了限製輻射影響，試驗箱內壁各部分溫度與規定（dìng）試驗溫度之差不（bú）應超過 8%（按開爾文溫度計），且試驗（yàn）樣品不應受到不符（fú）合上述要求的任何加熱與冷卻元器件的直接輻射。