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電容屏帶電雙85老(lǎo)化測試

作者: salmon範 編輯: 草莓视频网站儀器(qì) 來源: www.tuyatang.com 發(fā)布日期: 2019.09.21
    電容(róng)屏在不帶電條件下通過行(háng)業內嚴酷的雙85可靠性測(cè)試後(hòu),為了進一步驗證電容屏在經(jīng)過持續通電條(tiáo)件下是否仍(réng)具有優(yōu)異的可靠性和穩定(dìng)性。近期,某(mǒu)品牌(pái)技術團隊專門對應用低阻透明導電膜(mó)生產的電容屏產品進行了更為苛刻的帶(dài)電壓雙(shuāng)85老化測試(即抗銀遷移(yí)測試)。

    一、測試裝置及條件

    1、測試裝置: 高低溫交(jiāo)變濕熱試驗箱(RK-TH-408L)
    2、測試條件:通(tōng)電32V(85℃+85%RH);
    3、測試時間(jiān):持(chí)續240H
    4、測試標準:環測前/後的數(shù)據對比差異值小

    二、測試內容

    1、測試產(chǎn)品(pǐn):某品牌65寸TP
    2、測試數量:1片

    3、物料(liào)情況:

物料情況

    三、測試結果

    1、某品牌電容屏測試前後的基本性能

某品牌電容屏測試前後的基本性能

    2、電容屏測試後的基本性(xìng)能(néng):經帶電壓(yā)(32V)85℃/85%RH.測試後,某品牌電(diàn)容(róng)屏依然保持原有的性能特性,對比測試前(qián)後的充電(diàn)電壓數(shù)據及充電時(shí)間數據均在要求範圍內,證明透明導電膜(mó)無(wú)機(jī)材料製成的TP可以通(tōng)過帶電壓雙85環測,不會出現納米(mǐ)銀線導電膜(mó)常有的銀遷移現(xiàn)像,性(xìng)能穩定可靠。
    本次帶電壓雙85測試結(jié)果再次(cì)充分表明,應(yīng)用某品牌技術製成的49寸、55寸、65寸、75寸、86寸電容屏產品,相比納米銀線、金屬網格等產品更具有穩定性和可靠性優勢,不存在銀遷移隱患,可以(yǐ)放心應(yīng)用於商用顯示(shì)及智能家居等領域(yù)。
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