電容屏帶電雙85老化測試
作者:
salmon範
編輯:
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來源:
www.tuyatang.com
發布日期: 2019.09.21
電容屏在不帶電條件下通過行(háng)業內嚴酷的雙85可靠性測試後,為了進一步驗證電容(róng)屏(píng)在經過持續通(tōng)電條件下是否仍具有優異的可靠性和穩(wěn)定性。近期,某(mǒu)品牌技(jì)術團隊專門對(duì)應用低阻透明導電膜生產的電容屏產(chǎn)品進行了更為苛刻的
帶電壓雙85老化測試(即抗銀(yín)遷移測試)。
一、測試裝置及條件
1、測試裝置:
高低溫交變濕(shī)熱試驗箱(RK-TH-408L)
2、測試條件:通電32V(85℃+85%RH);
3、測試時間:持(chí)續(xù)240H
4、測試標準:環測(cè)前/後(hòu)的數據對比差異值小
二、測試內(nèi)容
1、測(cè)試產品:某品牌65寸TP
2、測試數量:1片
3、物料情況:
三、測試結果
1、某品牌電容屏測試前後的基本性能(néng)
2、電容屏測試後的基本性能:經帶電壓(32V)85℃/85%RH.測試後(hòu),某品牌電容屏依然保持原有的性能特(tè)性,對比測試前後的充電電壓數據及(jí)充電時間數據均(jun1)在要求範圍內,證明透(tòu)明導電膜無機材料製成的TP可以通過帶電壓雙85環測,不(bú)會出現納米銀線導電膜常有的銀遷移現像,性能穩定可靠。
本次帶(dài)電(diàn)壓雙85測試結果再次充分表明,應用某品(pǐn)牌技術製成的49寸、55寸、65寸、75寸、86寸(cùn)電容屏產品,相(xiàng)比納米銀線、金屬網格等產品更具(jù)有穩定性(xìng)和可靠性優勢,不存(cún)在銀遷移隱患,可以放心應用於(yú)商用顯(xiǎn)示及智能家居等領域。