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GB_T 2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗Ed自由跌落(回收站2024-12-11 16:10)
2024-12-11
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GB_T 2423.13-1997 電工(gōng)電子產(chǎn)品環境(jìng)試驗 第2部(bù)分-試驗方法 試驗Fdb-寬頻帶隨機振動-中再現性
2024-12-11
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GB_T 2423.14-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分(fèn)試驗方法 試驗Fda 寬頻帶隨機振動—低再現性
2024-12-11
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GB_T 2423.12-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分-試驗方(fāng)法 試驗Fda-寬頻(pín)帶隨機振動-高再(zài)現性
2024-12-11
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GB_T 2423.15-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga:和導則:穩態加速度
2024-12-11
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GB_T 2423.16-2022 環境試驗 第2部分:試驗方法 試(shì)驗J和導則:長(zhǎng)黴
2024-12-11
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GB_T 2423.18-2021 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽(yán)霧(wù),交(jiāo)變(氯(lǜ)化鈉溶液)
2024-12-11
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GB_T 2423.17-2008 電(diàn)工(gōng)電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧
2024-12-11
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GB_T 2423.10-2019 環境試驗 第2部分:試驗方法試(shì)驗Fc:振動(正弦)
2024-12-11
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GB_T 2423.11-1997 電工電(diàn)子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗Fd寬頻帶隨機振動(dòng)—一般要求
2024-12-11